[发明专利]一种MEMS器件及其制备方法、电子装置在审
申请号: | 201410837787.7 | 申请日: | 2014-12-24 |
公开(公告)号: | CN105776124A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
发明(设计)人: | 何昭文 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | B81B7/02 | 分类号: | B81B7/02;B81C1/00;B81C3/00;H04R19/04 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 高伟;冯永贞 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种MEMS器件及其制备方法、电子装置,所述MEMS器件包括:半导体衬底;背板,位于所述半导体衬底上方;振膜,位于所述背板上方,包括间隔设置的第一振膜和第二振膜;牺牲层,位于所述振膜和所述背板之间;其中,所述第一振膜与所述背板之间形成有空腔,所述空腔下方的所述半导体衬底中形成有背腔;在所述第一振膜上形成有第一电极接触,所述第二振膜上形成有第二电极接触。本发明在所述MEMS麦克风中设计另一电容与该MEMS麦克风电容串联,通过调节另一电容的电容值来达到调节MEMS麦克风电容上分配的电压,使MEMS麦克风上分配到的电压为其工作电压,IC电路可以统一生产,减小了成本,有利于批量化生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 mems 器件 及其 制备 方法 电子 装置 | ||
【主权项】:
一种MEMS器件,包括:半导体衬底;背板,位于所述半导体衬底上方;振膜,位于所述背板上方,包括间隔设置的第一振膜和第二振膜;牺牲层,位于所述振膜和所述背板之间;其中,所述第一振膜与所述背板之间形成有空腔,所述空腔下方的所述半导体衬底中形成有背腔;在所述第一振膜上形成有第一电极接触,在所述第二振膜上形成有第二电极接触。
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