[发明专利]一种MEMS器件及其制备方法、电子装置在审

专利信息
申请号: 201410837787.7 申请日: 2014-12-24
公开(公告)号: CN105776124A 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 何昭文 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02;B81C1/00;B81C3/00;H04R19/04
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 高伟;冯永贞
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种MEMS器件及其制备方法、电子装置,所述MEMS器件包括:半导体衬底;背板,位于所述半导体衬底上方;振膜,位于所述背板上方,包括间隔设置的第一振膜和第二振膜;牺牲层,位于所述振膜和所述背板之间;其中,所述第一振膜与所述背板之间形成有空腔,所述空腔下方的所述半导体衬底中形成有背腔;在所述第一振膜上形成有第一电极接触,所述第二振膜上形成有第二电极接触。本发明在所述MEMS麦克风中设计另一电容与该MEMS麦克风电容串联,通过调节另一电容的电容值来达到调节MEMS麦克风电容上分配的电压,使MEMS麦克风上分配到的电压为其工作电压,IC电路可以统一生产,减小了成本,有利于批量化生产。
搜索关键词: 一种 mems 器件 及其 制备 方法 电子 装置
【主权项】:
一种MEMS器件,包括:半导体衬底;背板,位于所述半导体衬底上方;振膜,位于所述背板上方,包括间隔设置的第一振膜和第二振膜;牺牲层,位于所述振膜和所述背板之间;其中,所述第一振膜与所述背板之间形成有空腔,所述空腔下方的所述半导体衬底中形成有背腔;在所述第一振膜上形成有第一电极接触,在所述第二振膜上形成有第二电极接触。
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