[发明专利]Ga2有效

专利信息
申请号: 201410810880.9 申请日: 2014-12-23
公开(公告)号: CN104726935B 公开(公告)日: 2020-02-18
发明(设计)人: 佐佐木公平;东胁正高 申请(专利权)人: 株式会社田村制作所;独立行政法人情报通信研究机构
主分类号: C30B29/16 分类号: C30B29/16;C30B25/02;C30B23/02;H01L21/02;H01L29/778;H01L29/812;H01L29/872;H01L29/04;H01L29/24;H01L29/78
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 徐谦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供能在量产时以足够的生长速度形成晶体品质、表面的平坦性优异的Ga2O3系晶体膜的Ga2O3系晶体膜的成膜方法和包括通过该成膜方法形成的Ga2O3系晶体膜的晶体层叠结构体。作为一实施方式,提供在Ga2O3系基板(10)的面方位为(001)的主面(11)上以750℃以上的生长温度使Ga2O3系晶体膜(12)外延生长的Ga2O3系晶体膜(12)的成膜方法。
搜索关键词: ga base sub
【主权项】:
一种Ga2O3系晶体膜的成膜方法,其特征在于,在Ga2O3系基板的面方位为(001)的主面上以750℃以上的生长温度使Ga2O3系晶体膜外延生长。
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