[发明专利]半导体测试装置有效
| 申请号： | 201410225276.X | 申请日： | 2014-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN104810060B | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 李完燮 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 半导体测试装置使用高速内部时钟来执行测试。半导体测试装置包括：时钟发生器，适合于在测试模式期间响应于测试模式信号而产生内部时钟；数据发生器，适合于响应于内部时钟而产生内部数据；以及数据锁存电路，适合于响应于内部时钟而锁存内部数据，且将锁存的数据输出至内部逻辑电路。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体测试装置，包括：时钟发生器，适合于在测试模式期间响应于测试模式信号而产生内部时钟；数据发生器，适合于响应于所述内部时钟而产生内部数据；以及数据锁存电路，适合于响应于所述内部时钟而锁存所述内部数据，且将锁存的数据输出至内部逻辑电路。
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