[发明专利]半导体测试装置有效
| 申请号： | 201410225276.X | 申请日： | 2014-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN104810060B | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 李完燮 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 装置 | ||
1.一种半导体测试装置，包括：
时钟发生器，适合于在测试模式期间响应于测试模式信号而产生具有预定周期的内部时钟信号；
数据发生器，适合于响应于与所述内部时钟信号的上升沿同步的上升时钟和与所述内部时钟信号的下降沿同步的下降时钟而产生内部数据；以及
数据锁存电路，适合于响应于所述内部时钟信号而锁存所述内部数据，且向内部逻辑电路输出锁存的内部数据，
其中，所述数据锁存电路锁存与所述上升时钟的上升沿同步的内部数据和锁存与所述下降时钟的上升沿同步的内部数据。
2.如权利要求1所述的半导体测试装置，其中，所述数据发生器与所述上升时钟的上升沿和所述下降时钟的上升沿同步地产生所述内部数据。
3.如权利要求1所述的半导体测试装置，其中，所述数据发生器包括通过所述上升时钟和所述下降时钟驱动的多个触发器。
4.如权利要求3所述的半导体测试装置，其中，所述触发器中的每个与所述上升时钟的上升沿和所述下降时钟的上升沿同步地操作。
5.如权利要求3所述的半导体测试装置，其中，所述多个触发器中的每个接收设定信号和复位信号作为输入信号，且所述触发器彼此独立地操作。
6.如权利要求1所述的半导体测试装置，其中，所述数据锁存电路锁存与所述上升时钟的上升沿同步的第一内部数据并输出第一输入数据，以及锁存与所述下降时钟的上升沿同步的第二内部数据并输出第二输入数据。
7.如权利要求6所述的半导体测试装置，其中，所述第一输入数据和所述第二输入数据中的每个是双数据速率DDR数据。
8.如权利要求1所述的半导体测试装置，其中，所述测试模式在晶片级下执行。
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