[发明专利]闪存存储器有效

专利信息
申请号: 201410138977.X 申请日: 2014-04-08
公开(公告)号: CN103915442B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 顾经纶 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L27/11517 分类号: H01L27/11517;H01L27/11521
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 王宏婧
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭示了一种闪存存储器。包括一作为衬底的圆柱状的主体结构,所述主体结构为N型硅结构,包括中间部分及位于中间部分两侧的两个端部,围绕中间部分包裹有栅极,形成围栅;所述两个端部作为源极和漏极,包括有一层P型掺杂区域;所述端部被P型掺杂区域围绕的部分通过接触线引出,用于施加衬底电压。能够拥有更小的栅长,使用圆柱状结构能够使得控制栅和浮栅的电压能够更好地控制沟道,降低源漏耗尽区展宽占有的总的耗尽区尺寸的百分比,抑制短沟道效应,抵抗阈值电压漂移,减少闪存的读出错误。
搜索关键词: 闪存 存储器
【主权项】:
一种闪存存储器,包括:一作为衬底的圆柱状的主体结构,所述主体结构为N型硅结构,包括中间部分及位于中间部分两侧的两个端部,围绕中间部分包裹有栅极,形成围栅;所述两个端部作为源极和漏极,包括有一层P型掺杂区域;所述两个端部被P型掺杂区域围绕的部分通过接触线引出,用于施加衬底电压。
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