[发明专利]一种用于无源器件的半导体衬底的制作方法在审
申请号: | 201410115034.5 | 申请日: | 2014-03-26 |
公开(公告)号: | CN104952726A | 公开(公告)日: | 2015-09-30 |
发明(设计)人: | 陈林;杜海 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/324 | 分类号: | H01L21/324 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种用于无源器件的半导体衬底的制作方法,包括以下步骤:1)提供半导体衬底,于第一温度下对所述半导体衬底进行第一退火处理,使半导体衬底中的间隙氧往外扩散;2)于第二温度下对所述半导体衬底进行第二退火处理,使半导体衬底中的间隙氧成核形成第一氧沉淀;3)于第三温度下对所述半导体衬底进行第三退火处理,使所述第一氧沉淀吸收间隙氧形成第二氧沉淀。本发明通过对半导体衬底进行一种高温-低温-高温的热处理方法,使大量的间隙氧变为氧沉淀,从而有效地避免在后续的多步热处理过程中形成氧热施主,从而达到使衬底电阻率在整个工艺过程中都保持稳定的效果,使器件能稳定的实现其性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 无源 器件 半导体 衬底 制作方法 | ||
【主权项】:
一种用于无源器件的半导体衬底的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1),提供半导体衬底,于第一温度下对所述半导体衬底进行第一退火处理,使半导体衬底中的间隙氧往外扩散;步骤2),于第二温度下对所述半导体衬底进行第二退火处理,使半导体衬底中的间隙氧成核形成第一氧沉淀;步骤3),于第三温度下对所述半导体衬底进行第三退火处理,使所述第一氧沉淀吸收间隙氧形成第二氧沉淀;其中,所述第一温度及第三温度大于所述第二温度,所述第二氧沉淀的体积大于所述第一氧沉淀的体积。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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