[发明专利]一种阵列基板及其制备方法有效
申请号: | 201410029377.X | 申请日: | 2014-01-22 |
公开(公告)号: | CN104795392B | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 闻正锋;马万里;赵文魁 | 申请(专利权)人: | 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/77 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100871 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种阵列基板及其制备方法,包括在单晶硅层上逐层制备栅氧化层、多晶硅层;采用干法刻蚀形成图形化的多晶硅层;采用干法刻蚀去除未被多晶硅层覆盖的栅氧化层;在多晶硅层以及单晶硅层的表面上生长氧化层,该氧化层的厚度小于干法刻蚀后未被多晶硅层覆盖的栅氧化层的厚度;采用湿法刻蚀去除氧化层;最终在多晶硅层以及单晶硅层的表面生长垫氧化层。本发明实施例通过在多晶硅层以及单晶硅层的表面生长氧化层,然后采用湿法刻蚀去除该氧化层,从而能够有效地消除单晶硅层表面的损伤,以使在后续生长垫氧化层的工艺中,在单晶硅层的表面能够生长出厚度符合要求的垫氧化层,且能够避免由横向钻蚀导致的器件性能的下降的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 阵列 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种阵列基板的制备方法,其特征在于,包括:在单晶硅层上逐层制备栅氧化层、多晶硅层;采用干法刻蚀对所述多晶硅层进行刻蚀,形成图形化的多晶硅层;采用干法刻蚀去除未被所述多晶硅层覆盖的栅氧化层;在所述多晶硅层以及所述单晶硅层的表面生长氧化层,所述氧化层的厚度小于干法刻蚀形成图形化的多晶硅层后未被所述多晶硅层覆盖的栅氧化层的厚度;采用湿法刻蚀去除所述氧化层;在所述多晶硅层以及所述单晶硅层的表面生长垫氧化层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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