[发明专利]用于使半导体材料与接触层片接触的方法有效
申请号: | 201380039266.0 | 申请日: | 2013-06-04 |
公开(公告)号: | CN104471681B | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | T.聚纳 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L29/16;H01L29/45 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 卢江,胡莉莉 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于使半导体材料与接触层片接触的方法,其中半导体材料具有碳化硅(SiC),所述方法包括下述方法步骤a)将接触层片施加到半导体材料上,其中接触层片包括氧化镍并且必要时镍;和b)以升高的温度处理至少接触层片和半导体材料之间的界面。通过这样的方法,例如可以建立欧姆接触部,所述欧姆接触部由于镍在碳化硅上的改进的附着而具有改进的持久稳定性。本发明此外涉及一种用于制造半导体构件的方法以及一种半导体构件。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体材料 接触 方法 | ||
【主权项】:
用于使半导体材料与接触层片接触的方法,其中所述半导体材料具有碳化硅,所述方法包括下述方法步骤:a)将接触层片施加到所述半导体材料上,其中所述接触层片包括氧化镍,使得所述半导体材料与氧化镍直接接触;和b)以升高的温度处理至少所述接触层片和所述半导体材料之间的界面,使得所述接触层片的氧化镍的至少一部分与碳化硅反应成硅化镍。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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