[实用新型]一种基于重掺杂半导体红外波段近完全吸收的膜系结构有效

专利信息
申请号: 201320362250.0 申请日: 2013-06-21
公开(公告)号: CN203456478U 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 张云;陈鑫;孙艳;魏调兴;董文静;黄婵燕;张克难;戴宁 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 专利公开了一种基于重掺杂半导体红外波段近完全吸收的膜系结构,其结构为在衬底上沉积10-200组周期膜系,而周期膜系由重掺杂半导体薄膜层和氧化物薄膜层构成,此多层周期性膜系结构具有在红外特定波段吸收率达到99%的近完全吸收特性。本专利的优点是:工艺简单,成本低,偏正不敏感,角度不敏感,可控性好,协调性高,可大面积生长,纳米加工技术成熟;本专利制备的红外波段近完全吸收多层周期性膜系,在探测器,空间分辨等领域有广阔应用前景。
搜索关键词: 一种 基于 掺杂 半导体 红外 波段 完全 吸收 结构
【主权项】:
一种基于重掺杂半导体红外波段近完全吸收的膜系结构,其结构为在衬底(1)上沉积多组周期膜系(2),其特征在于: 所述的基于重掺杂半导体红外波段近完全吸收的膜系结构为在衬底(1)上沉积10‑200组周期膜系(2); 所述的衬底(1)采用半导体晶片,玻璃或者金属; 所述周期膜系(2)由重掺杂半导体薄膜层(2‑1)和氧化物薄膜层(2‑2)构成;重掺杂半导体薄膜层(2‑1)是材质为重掺杂铝氧化锌,重掺杂镓氧化锌或者重掺杂铟氧化钛的重掺杂宽禁带半导体薄膜,薄膜厚度为20nm‑200nm;氧化物薄膜层(2‑2)是氧化锌、氧化铝、氧化钛或氧化硅薄膜,薄膜厚度为5nm‑200nm。 
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