[发明专利]引线框区域阵列封装技术有效
申请号: | 201310585262.4 | 申请日: | 2013-11-19 |
公开(公告)号: | CN103824820B | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 安东尼奥·巴姆巴兰·狄马诺;纳莎彭·苏斯旺桑索;杨永波 | 申请(专利权)人: | 联测总部私人有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/498;H01L21/50;H01L21/56 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 蔡晓红 |
地址: | 新加坡宏茂桥工*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | 本发明的实施例涉及用于制造I/O接触区域阵列的引线框区域阵列封装技术。一种制造的半导体封装件包括聚合物基板、设置在所述聚合物基板顶部的互连层、与所述互连层通过引线或导电柱相连接的芯片,以及封装所述芯片、所述互连层以及所述引线或所述导电柱的模塑料。所述聚合物典型地在组装之前设置在载体上且不将其移除,从而作为制造封装件的基板。所述聚合物基板具有多个通孔,所述通孔在预设的位置显露所述互连层,并使得直接在所述互连层上进行锡球安装或焊锡印刷成为可能。在一些实施例中,所述半导体封装件还包括设置在所述聚合物基板内的缓减通道,以提高所制造的封装件的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 引线 区域 阵列 封装 技术 | ||
【主权项】:
1.一种半导体封装件,包括:a.聚合物层包括顶面和底面,其中,所述聚合物层的所述底面与载体条的第一侧边连接,其中所述聚合物层形成缓减通道以减缓压力和排出水分;所述载体条在封装过程后移除,使得所述聚合物层的所述底面暴露出来;b.多个互连件,所述多个互连件构建在所述聚合物层的所述顶面上;c.半导体芯片,所述半导体芯片连接在所述多个互连件的至少一部分上;以及d.模塑料,所述模塑料封装所述半导体芯片以及所述多个互连件,并与所述聚合物层的所述顶面交界。
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