[发明专利]蚀刻剂组合物、形成LCD布线的方法、阵列基板及其制法在审

专利信息
申请号: 201310471239.2 申请日: 2013-10-10
公开(公告)号: CN103824808A 公开(公告)日: 2014-05-28
发明(设计)人: 李恩远;金镇成;李石 申请(专利权)人: 东友FINE-CHEM股份有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L21/3213;H01L21/28;C09K13/00;G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 武晨燕;胡春光
地址: 韩国全*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及制造用于液晶显示器的阵列基板的方法,所述方法包括:(a)在基板上形成栅极,(b)在具有所述栅极的基板上形成栅绝缘层,(c)在所述栅绝缘层上形成金属氧化物膜(有源层),以及(d)在所述金属氧化物膜上形成Mo金属膜(源极/漏极),其中(d)包括在所述金属氧化物膜上形成所述Mo金属膜和使用蚀刻剂组合物来蚀刻所述Mo金属膜,基于组合物的总重量,所述蚀刻剂组合物包含:(A)过氧化氢(H2O2);(B)pH调节剂和(C)余量的水,本发明还涉及所述蚀刻剂组合物、形成液晶显示器的布线的方法及用于液晶显示器的阵列基板。
搜索关键词: 蚀刻 组合 形成 lcd 布线 方法 阵列 及其 制法
【主权项】:
一种制造用于液晶显示器的阵列基板的方法,包括:(a)在基板上形成栅极;(b)在具有所述栅极的所述基板上形成栅绝缘层;(c)在所述栅绝缘层上形成作为有源层的金属氧化物膜;以及(d)在所述金属氧化物膜上形成作为源极/漏极的Mo金属膜,其中,(d)包括在所述金属氧化物膜上形成所述Mo金属膜和使用蚀刻剂组合物来蚀刻所述Mo金属膜,基于所述组合物的总重量,所述蚀刻剂组合物包含:(A)5.0~25.0wt%的过氧化氢;(B)1.0~5.0wt%的pH调节剂和(C)余量的水。
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