[发明专利]带散热的功率晶体管及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201310267931.3 申请日: 2013-06-28
公开(公告)号: CN103531564B 公开(公告)日: 2017-12-22
发明(设计)人: 丁珉 申请(专利权)人: 恩智浦美国有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L21/60;H01L23/36
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 秦晨
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及带散热的功率晶体管及其形成方法。器件包括衬底、附接于一侧上的所述衬底的集成电路(IC)管芯、多个位于所述IC管芯的有源侧上的接触焊盘、多个导热且导电支脚,所述支脚中的每一个附接于所述其中一个接触焊盘上、以及形成于所述衬底、所述IC管芯和所述支脚的一部分周围的封装材料。所述支脚中的每一个的接触端部被暴露,并且所述接触端部的其中一个传导来自所述IC管芯内的晶体管的信号。
搜索关键词: 散热 功率 晶体管 及其 形成 方法
【主权项】:
一种功率晶体管器件,包括:衬底;在一侧上附接于所述衬底的集成电路(IC)管芯;所述集成电路(IC)管芯的有源侧上的多个接触焊盘;导热且导电的多个支脚,所述支脚中的每一个附接于所述接触焊盘中的相应一个;以及形成于所述衬底、所述集成电路(IC)管芯和所述支脚的一部分周围的封装材料,其中所述支脚中的每一个的顶表面被暴露以形成接触端部,所述接触端部通过一个或多个凹槽而彼此分开,并且所述接触端部中的一个传导来自所述集成电路(IC)管芯内的晶体管的信号。
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