[发明专利]阵列基板及其制作方法,显示装置在审
申请号: | 201310206614.0 | 申请日: | 2013-05-29 |
公开(公告)号: | CN103295962A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 任章淳 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/02 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及显示技术领域,公开了一种阵列基板制作方法,包括步骤:在基板上同一层形成包括驱动薄膜晶体管的有源层、开关薄膜晶体管的有源层及像素电极的图形;形成包括栅绝缘层、驱动薄膜晶体管的栅极及开关薄膜晶体管的栅极的图形;对驱动薄膜晶体管的有源层进行掺杂;形成包括绝缘间隔层、位于所述绝缘间隔层上的过孔及像素电极凹槽的图形,所述像素电极凹槽使像素电极图形暴露出来;形成包括驱动薄膜晶体管的源极、漏极的图形,及开关薄膜晶体管的源极、漏极的图形,使驱动薄膜晶体管的漏极连接所述像素电极;形成包括像素电极定义层的图形。本发明减少了制作过程的中的Mask工序,节省了工艺流程和制作成本。 | ||
搜索关键词: | 阵列 及其 制作方法 显示装置 | ||
【主权项】:
一种阵列基板制作方法,其特征在于,包括步骤:S1:在基板上同一层形成包括驱动薄膜晶体管的有源层的图形、开关薄膜晶体管的有源层的图形及像素电极的图形;S2:在完成S1步骤的基板上形成包括栅绝缘层的图形、驱动薄膜晶体管的栅极的图形及开关薄膜晶体管的栅极的图形;S3:在完成S2步骤的基板上对驱动薄膜晶体管的有源层进行掺杂;S4:在完成S3步骤的基板上形成包括绝缘间隔层、位于所述绝缘间隔层上的过孔及像素电极凹槽的图形,所述像素电极凹槽使像素电极图形暴露出来;S5:在完成步骤S4的基板上形成包括驱动薄膜晶体管的源极、漏极的图形,及开关薄膜晶体管的源极、漏极的图形,使驱动薄膜晶体管的漏极连接所述像素电极;S6:在完成步骤S5的基板上形成包括像素电极定义层的图形。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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