[发明专利]半导体装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201310052224.2 申请日: 2008-02-02
公开(公告)号: CN103456686A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 神保安弘;伊佐敏行;本田达也 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12;H01L29/786;H01L27/32
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 屠长存
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供一种从衬底剥离通过较低温度(低于500℃)的工艺而制造的元件来制造具有柔性的半导体装置的方法。使用现有的大型玻璃衬底的制造设备,在玻璃衬底上形成钼膜,在其上形成氧化钼膜,在氧化钼膜上层叠非金属无机膜及有机化合物膜,并且在有机化合物膜上形成通过较低温度(低于500℃)的工艺而制造的元件,然后将其元件从玻璃衬底剥离。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,包括如下步骤: 在衬底上形成钼膜; 在所述钼膜上形成氧化钼膜; 在所述氧化钼膜上形成非金属无机膜; 在所述非金属无机膜上形成所述半导体装置的支撑构件; 在所述支撑构件上形成第一电极; 在所述第一电极上形成发光层; 在所述发光层上形成第二电极; 在所述第二电极上贴合挠性衬底;以及 从所述衬底剥离包括所述非金属无机膜、所述支撑构件、所述第一电极、所述发光层、所述第二电极和所述挠性衬底的叠层体。
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