[发明专利]Ga2O3系半导体元件有效
申请号: | 201280043335.0 | 申请日: | 2012-09-07 |
公开(公告)号: | CN103765593B | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | 佐佐木公平;东胁正高 | 申请(专利权)人: | 株式会社田村制作所;独立行政法人情报通信研究机构 |
主分类号: | H01L29/12 | 分类号: | H01L29/12;H01L21/20;H01L21/28;H01L21/336;H01L21/363;H01L29/24;H01L29/78 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所11323 | 代理人: | 徐谦,张艳凤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种高品质的Ga2O3系半导体元件。作为一个实施方式,提供Ga2O3系半导体元件(20),包含n型β‑Ga2O3基板(2),在n型β‑Ga2O3基板(2)上形成的β‑Ga2O3单晶膜(3),在β‑Ga2O3单晶膜(3)上形成的源电极(22a)、(22b),在n型β‑Ga2O3基板(2)的与β‑Ga2O3单晶膜(3)相反侧的面上形成的漏电极(25),在β‑Ga2O3单晶膜(3)中形成的连接源电极(22a)、(22b)的n型接触区域(23a)、(23b),以及在β‑Ga2O3单晶膜(3)上介由栅极绝缘膜(26)形成的栅电极(21)。 | ||
搜索关键词: | ga2o3 半导体 元件 | ||
【主权项】:
一种Ga2O3系场效应晶体管(FET),包括:具有第1导电型的β‑Ga2O3基板,位于所述β‑Ga2O3基板上的、具有所述第1导电型的β‑Ga2O3单晶膜,位于所述β‑Ga2O3单晶膜上的第1源电极和第2源电极,位于所述β‑Ga2O3基板的与所述β‑Ga2O3单晶膜位于的面相反侧的面上的漏电极,以及介由栅极绝缘膜位于所述β‑Ga2O3单晶膜上的所述第1源电极与所述第2源电极之间的区域的栅电极,所述β‑Ga2O3单晶膜包含:分别位于所述第1源电极和所述第2源电极下的第1接触区域和第2接触区域,以及分别包围所述第1接触区域和所述第2接触区域的、具有与所述第1导电型不同的第2导电型的第1主体区域和第2主体区域,所述β‑Ga2O3基板以从(100)面仅旋转50°~90°的角度的面为主面。
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