[发明专利]氮化物半导体模板和发光二极管有效
申请号: | 201210539514.5 | 申请日: | 2012-12-13 |
公开(公告)号: | CN103165773A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 今野泰一郎;藤仓序章 | 申请(专利权)人: | 日立电线株式会社 |
主分类号: | H01L33/02 | 分类号: | H01L33/02;H01L33/22 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;於毓桢 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种低电阻且结晶性良好的氮化物半导体模板、和使用其的发光二极管。氮化物半导体模板(10)具备PSS基板(11)和在PSS基板(11)上形成、使最上层为添加了Si的Si掺杂GaN层(14)的III族氮化物半导体层,III族氮化物半导体层的总膜厚为4μm以上10μm以下,Si掺杂GaN层(14)具有Si浓度倾斜层(14b),所述Si浓度倾斜层(14b)的载流子浓度朝着最表面慢慢降低,且在III族氮化物半导体层的最表面的载流子浓度为1×1017cm-3以上5×1017cm-3以下。 | ||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 模板 发光二极管 | ||
【主权项】:
一种氮化物半导体模板,其具备基板和在所述基板上形成、使最上层为添加了Si的Si添加层的III族氮化物半导体层,所述III族氮化物半导体层的总膜厚为4μm以上10μm以下,所述Si添加层具有Si浓度倾斜层,所述Si浓度倾斜层的载流子浓度朝着最表面慢慢降低,且在所述III族氮化物半导体层的最表面的载流子浓度为1×1017cm‑3以上5×1017cm‑3以下。
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