[发明专利]分裂栅极器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210195392.2 申请日: 2012-06-13
公开(公告)号: CN103247630A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 王驭熊;谢智仁;萧栋升 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L21/8247;H01L29/423;H01L21/28
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;孙征
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明涉及分裂栅极器件及其制造方法,其中,一种半导体器件包括:衬底;设置在第一区域中的衬底上方的存储元件;设置在存储元件上方的控制栅极;设置在邻近第一区域的第二区域中的衬底上的高k介电层;以及设置在高k介电层上方并邻近存储元件和控制栅极的金属选择栅极。
搜索关键词: 分裂 栅极 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体器件,包括:衬底;存储元件,设置在第一区域中的所述衬底上方;控制栅极,设置在所述存储元件上方;高k介电层,设置在邻近所述第一区域的第二区域中的所述衬底上;以及金属选择栅极,设置在所述高k介电层上方并且邻近所述存储元件和所述控制栅极。
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