[发明专利]一种PSS图形的相移掩膜版及其制备方法有效
申请号: | 201210089168.5 | 申请日: | 2012-03-29 |
公开(公告)号: | CN103365070A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 王德晓;刘存志;王成新;沈燕;任忠祥 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/26 | 分类号: | G03F1/26 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 吕利敏 |
地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种PSS图形的相移掩膜版,包括透明光刻板基底、在透明光刻板基底的一面蒸镀有不透光图形层,所述不透光图形层上均匀贯穿设置有直径范围是0.3-0.5μm的圆孔,相邻圆孔的间距为0.3-0.5μm,其中一部分圆孔露出透明光刻板基底,形成0°相移膜图形,另一部分圆孔内设置有相移图形层,形成180°相移膜图形;其中透过透明光刻板基底的光和透过相移图形层的光之间的相位差180°。本发明的优点:制备掩膜方法简单;其中0°相移图形层采用石英玻璃,而奇数倍的180°相移图形层为和0°相移图形层所对应的圆孔的孔径大小统一。利用本发明制成的发光芯片分辨率及光强均得到提高,其中光强提高5%以上。 | ||
搜索关键词: | 一种 pss 图形 相移 掩膜版 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种PSS图形的相移掩膜版,包括透明光刻板基底、在透明光刻板基底的一面蒸镀有不透光图形层,其特征在于,所述不透光图形层上均匀贯穿设置有直径范围是0.3‑0.5μm的圆孔,相邻圆孔的间距为0.3‑0.5μm,其中一部分圆孔露出透明光刻板基底,形成0°相移膜图形,另一部分圆孔内设置有相移图形层,形成180°相移膜图形;其中透过透明光刻板基底的光和透过相移图形层的光之间的相位差180°。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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