[发明专利]半导体发光元件制造方法有效

专利信息
申请号: 201180014812.6 申请日: 2011-03-14
公开(公告)号: CN102812566A 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 中條直树;神谷真央;本间昭广 申请(专利权)人: 丰田合成株式会社
主分类号: H01L33/38 分类号: H01L33/38;H01L21/28;H01L33/42
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 顾晋伟;董文国
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一个问题是提高光发射效率和可靠性。为了解决该问题,在第二半导体层(108)的整个顶表面上形成透明导电膜(10),并在该形成的透明导电膜上施加光刻胶。当移除在上表面上的与第一半导体层(104)的电极形成部分(16)相对应的光刻胶时,光刻胶被移除,使得在待移除的部分的边界处朝向移除的部分逐渐地变薄。使用剩余的光刻胶作为掩模来对透明导电膜进行湿法蚀刻,以露出第二半导体层的一部分。使用剩余的光刻胶和透明导电膜作为掩模来执行干法蚀刻,以露出第一半导体层的电极形成部分。使用剩余的光刻胶作为掩模来对在干法蚀刻中露出的透明导电层的部分进行湿法蚀刻,以清除剩余的光刻胶。
搜索关键词: 半导体 发光 元件 制造 方法
【主权项】:
一种用于制造半导体发光器件的方法,所述半导体发光器件包括:衬底;形成在所述衬底上的具有第一导电类型的第一半导体层;具有与所述第一导电类型不同的第二导电类型的第二半导体层;形成在所述第二半导体层上的由透明导电膜制成的第二电极;和形成在所述第一半导体层的通过蚀刻从所述第二半导体层露出的电极形成部分上的第一电极,其特征在于,所述方法包括:在所述第二半导体层的整个顶表面上形成所述透明导电膜;在所述透明导电膜上施加光刻胶;移除所述光刻胶的存在于所述第一半导体层的所述电极形成部分正上方的部分,使得所述光刻胶的剩余部分在待移除的所述部分的边界处朝向待移除的所述部分逐渐变薄;使用所述剩余的光刻胶,通过对所述透明导电膜进行湿法蚀刻来露出所述第二半导体层的一部分;使用所述光刻胶和所述透明导电膜作为掩模,通过干法蚀刻来露出所述第一半导体层的所述电极形成部分;使用所述剩余的光刻胶作为掩模,对所述透明导电膜的在所述干法蚀刻中露出的部分进行湿法蚀刻;以及清除所述剩余的光刻胶。
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