[发明专利]一种肖特基势垒MOS晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201110314591.6 申请日: 2011-10-17
公开(公告)号: CN102324434A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 黄如;江文哲;黄芊芊;詹瞻;邱颖鑫 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L29/10 分类号: H01L29/10;H01L29/423;H01L29/78;H01L21/28;H01L21/336
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种肖特基势垒MOS晶体管,包括一个环状栅电极(3),一个环状栅介质层(2),环状栅电极侧墙(4),一个半导体衬底,一个源区(5),一个环状漏区(6),其特征是,所述半导体衬底具有有凸起台阶结构;源区位于凸起台阶较高的平面上,环状漏区环绕凸起台阶并位于较低的平面上,栅介质层和栅电极位于凸起台阶的拐角处并围绕住台阶凸起呈环状,栅电极侧墙呈环状围在栅电极外侧并有一定厚度,以作为掩蔽形成漏端的underlap结构。该器件结构采用了台阶结构结合环形栅结构以及不对称源/漏结构,在继承传统SB-MOSFET的优点的基础上,提高了开态导通电流,抑制了双极效应,并且简化了工艺。
搜索关键词: 一种 肖特基势垒 mos 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种肖特基势垒MOS晶体管,包括一个环状栅电极(3),一个环状栅介质层(2),环状栅电极侧墙(4),一个半导体衬底(1),一个源区(5),一个环状漏区(6),其特征是,所述半导体衬底(1)具有有凸起台阶结构;源区(5)位于凸起台阶较高的平面上,环状漏区(6)环绕凸起台阶并位于较低的平面上,栅介质层(2)和栅电极位于凸起台阶的拐角处并围绕住台阶凸起呈环状,栅电极侧墙(4)呈环状围在栅电极外侧并有一定厚度,以作为掩蔽形成漏端的underlap结构。
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