[发明专利]在半导体基板上形成凹陷阵列元件结构的方法有效
申请号: | 201110266502.5 | 申请日: | 2011-09-09 |
公开(公告)号: | CN102800582A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 吴常明;陈逸男;刘献文 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/3105 | 分类号: | H01L21/3105;H01L21/311;H01L21/8242 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 张龙哺;冯志云 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种在半导体基板上形成凹陷阵列元件结构的方法,包括以下步骤:提供一包含半导体基板及第一材料的基材;形成多个第二凹陷于该半导体基板上;形成一第二材料于所述多个第二凹陷内;形成一金属层于该第二材料及该基材上,其中该金属层包括一第一部分及一第二部分;移除该第二部分以形成多个金属层开口;以及根据所述多个金属层开口蚀刻该基材以形成多个第三凹陷。由此,该金属层可以克服蚀刻工艺中非选择性的问题。 | ||
搜索关键词: | 半导体 基板上 形成 凹陷 阵列 元件 结构 方法 | ||
【主权项】:
一种在半导体基板上形成凹陷阵列元件结构的方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一基材,该基材包含一半导体基板及一第一材料,该半导体基板具有多个第一凹陷,该第一材料位于所述多个第一凹陷内,且该第一材料与该半导体基板不同;形成多个第二凹陷于该半导体基板上,其中所述多个第二凹陷与所述多个第一凹陷相交;形成一第二材料于所述多个第二凹陷内,其中该第二材料突出于该基材;形成一金属层于该突出的第二材料及该基材上,其中该金属层包括一第一部分及一第二部分,该第一部分覆盖该突出的第二材料,且该第二部分覆盖该基材;移除该金属层的第二部分以形成多个金属层开口而曝露该基材;以及根据所述多个金属层开口蚀刻该基材以形成多个第三凹陷,其中所述多个第三凹陷与所述多个第一凹陷相交且与所述多个第二凹陷平行。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造