[发明专利]用于半导体集成电路的芯片损伤检测设备有效
| 申请号： | 201080062117.2 | 申请日： | 2010-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN102753984A | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 艾万·埃蒙;菲利普·兰斯;库尔特·诺伊格鲍尔 | 申请（专利权）人： | 飞思卡尔半导体公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 李佳;穆德骏 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种芯片损伤检测设备(10)，该芯片损伤检测设备(10)包括至少一个双稳态电路(12)，该至少一个双稳态电路(12)包括穿过半导体集成电路芯片(20)的观察区域(16，18，34)以用于观察区域的损伤监视的第一导电线路(14)。该至少一个双稳态电路被布置成：当第一导电线路的第一端(22)与第二端(24)之间的电位差改变时或者当泄漏电流过驱动在第一导电线路处的状态保持电流时，该至少一个双稳态电路从第一稳定状态翻转到第二稳定状态。另外，半导体集成电路设备(60)包括芯片损伤检测设备(10)，而安全关键系统(70)包括半导体集成电路设备(60)或芯片损伤检测电路(10)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体 集成电路 芯片 损伤 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种集成电路设备(60)，包括：集成电路管芯(20)，所述集成电路管芯(20)包括观察区域(16，18，34)，和芯片损伤检测设备(10)，所述芯片损伤检测设备(10)用于所述观察区域的损伤监视，所述设备(10)包括：至少一个双稳态电路(12)，所述至少一个双稳态电路(12)包括穿过所述观察区域(16,18,34)的第一导电线路(14)，并且所述至少一个双稳态电路被布置成：当所述第一导电线路(14)的第一端(22)与第二端(24)之间的电位差改变时或者当泄漏电流过驱动在所述第一导电线路(140)处的状态保持电流时，所述至少一个双稳态电路从第一稳定状态翻转成第二稳定状态。
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