[发明专利]XRD和XRF的组合装置有效
| 申请号： | 201010569788.X | 申请日： | 2010-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN102128845A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | A·卡切科;R·麦耶;W·范登霍根豪夫 | 申请（专利权）人： | 帕纳科有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/223;G01N23/207 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种既能实现X射线衍射XRD，也能实现X射线荧光测量XRF的仪器。该仪器设置X射线源10以产生被引导到样品台上的样品的入射X射线光束。对于高能能量色散型XRD，X射线检测系统以固定的角度2θ安装，对于XRF，使用X射线检测系统。 | ||
| 搜索关键词： | xrd xrf 组合 装置 | ||
【主权项】：
一种X射线衍射XRD和X射线荧光XRF的组合装置，包括：X射线源，该X射线源提供同时在连续波长范围之上的辐射，该辐射包括多条特征线；光束调节器系统，被设置为在入射光束方向上将入射X射线束限定在衍射平面上；样品保持器，被设置为将样品保持在入射X射线束中，该样品保持器限定样品平面；XRF端口，被定位为用安装在该端口上的X射线检测系统测量离开样品的X射线以执行荧光分析；XRD端口，被设置在与入射光束方向成固定的2θ角处，以便测量衍射的X射线，其中，2θ在0.1°至20°的范围内；以及光束调节器系统，被设置为与XRD端口对准，以选择与入射光束方向成2θ角度的衍射的X射线。
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