[发明专利]亚分辨率辅助图形的设置以及光刻掩膜版的制作方法有效

专利信息
申请号: 201010022716.3 申请日: 2010-01-12
公开(公告)号: CN102129166B 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 杨青 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李丽
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了亚分辨率辅助图形的设置以及光刻掩膜版的制作方法,其中亚分辨率辅助图形的设置方法包括:提供已布局的曝光图形,所述曝光图形包括关键图形以及次要图形;在所述曝光图形的间隙处设置亚分辨率辅助图形;在不影响所述关键图形的曝光分辨率的条件下,所述亚分辨率辅助图形与其邻近的关键图形的间距最小化。整体上提高关键图形的聚焦深度,进而扩大工艺窗口,改善小尺寸光刻的光学邻近校正中禁止光学空间周期所带来的问题。
搜索关键词: 分辨率 辅助 图形 设置 以及 光刻 掩膜版 制作方法
【主权项】:
一种亚分辨率辅助图形的设置方法,其特征在于,包括:提供已布局的曝光图形,所述曝光图形包括关键图形以及次要图形;在所述曝光图形的间隙处设置亚分辨率辅助图形:所述亚分辨率辅助图形设置于关键图形与次要图形的间隙处时,所述亚分辨率辅助图形偏离间隙中心线而靠近关键图形;所述亚分辨率辅助图形设置于相邻关键图形的间隙处时,所述亚分辨率辅助图形偏离间隙中心线而靠近任意一侧关键图形;在不降低所述关键图形的曝光分辨率的条件下,所述亚分辨率辅助图形与其邻近的关键图形的间距最小化。
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