[发明专利]半导体开关控制装置

摘要

本发明提供了一种半导体开关控制装置。该半导体开关控制装置包括：电流检测单元，该电流检测单元检测在半导体开关中流动的电流；电压检测单元，该电压检测单元检测电压；以及温度检测单元，该温度检测单元检测温度。过渡热阻值提供单元将过渡热阻值Z_th提供给计算单元，该过渡热阻值Z_th基于从接收到过电压信号起经过的时间。温度检测单元检测当产生过电压时的初始温度T_J0。当用I_ds表示检测电流值，并且用V_ds表示检测电压值时，计算单元通过下面的表达式计算半导体开关的温度：(表达式)：半导体开关的温度T_J＝I_ds×V_ds×Z_th+T_J0。

主权项

1.一种半导体开关控制装置，所述半导体开关控制装置执行半导体开关的开关控制，所述半导体开关对从电源到负载的电力供给进行开关，所述半导体开关控制装置包括：电流检测单元，所述电流检测单元检测在所述半导体开关中流动的电流；电压检测单元，所述电压检测单元检测被施加到所述半导体开关的电压；温度检测单元，所述温度检测单元检测所述半导体开关的温度；计算单元，所述计算单元基于由所述电流检测单元检测到的检测电流值、由所述电压检测单元检测到的检测电压值以及由所述温度检测单元检测到的检测温度值来计算所述半导体开关的温度；以及驱动器，当在所述计算单元中计算的所述半导体开关的温度超过设定阈值时所述驱动器断开所述半导体开关。