[发明专利]半导体受光元件和照度传感器有效

专利信息
申请号: 200810213000.4 申请日: 2008-08-20
公开(公告)号: CN101414612A 公开(公告)日: 2009-04-22
发明(设计)人: 富田宣子 申请(专利权)人: 冲电气工业株式会社
主分类号: H01L27/144 分类号: H01L27/144;G01J1/42;G01J1/44
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供半导体受光元件和照度传感器,不仅抑制所照射的光的长波长分量而且抑制短波长分量的灵敏度、并具有与人的可见度特性大致一致的光谱灵敏度特性。半导体受光元件具有:P型阱区域和N型阱区域,该两者沿着P型半导体基板的表面并排设置;高浓度N型区域,其形成在P型阱区域的表面附近;以及高浓度P型区域,其形成在N型阱区域的表面附近。提取第1光电流和第2光电流,并对第1和第2光电流实施规定的运算处理来得到输出电流,该第1光电流流经由P型阱区域和高浓度N型区域形成的PN结,该第2光电流是将流经由N型阱区域和高浓度P型区域形成的PN结的光电流与流经由N型阱区域和P型半导体基板形成的PN结的光电流相加而得到的光电流。
搜索关键词: 半导体 元件 照度 传感器
【主权项】:
1. 一种半导体受光元件,其形成在P型半导体基板内,其特征在于,该半导体受光元件具有:P型阱区域和N型阱区域,该两者沿着所述P型半导体基板的表面并排设置;高浓度N型区域,其形成在所述P型阱区域的表面附近;以及高浓度P型区域,其形成在所述N型阱区域的表面附近。
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