[发明专利]半导体受光元件和照度传感器有效
申请号: | 200810213000.4 | 申请日: | 2008-08-20 |
公开(公告)号: | CN101414612A | 公开(公告)日: | 2009-04-22 |
发明(设计)人: | 富田宣子 | 申请(专利权)人: | 冲电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144;G01J1/42;G01J1/44 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供半导体受光元件和照度传感器,不仅抑制所照射的光的长波长分量而且抑制短波长分量的灵敏度、并具有与人的可见度特性大致一致的光谱灵敏度特性。半导体受光元件具有:P型阱区域和N型阱区域,该两者沿着P型半导体基板的表面并排设置;高浓度N型区域,其形成在P型阱区域的表面附近;以及高浓度P型区域,其形成在N型阱区域的表面附近。提取第1光电流和第2光电流,并对第1和第2光电流实施规定的运算处理来得到输出电流,该第1光电流流经由P型阱区域和高浓度N型区域形成的PN结,该第2光电流是将流经由N型阱区域和高浓度P型区域形成的PN结的光电流与流经由N型阱区域和P型半导体基板形成的PN结的光电流相加而得到的光电流。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 照度 传感器 | ||
【主权项】:
1. 一种半导体受光元件,其形成在P型半导体基板内,其特征在于,该半导体受光元件具有:P型阱区域和N型阱区域,该两者沿着所述P型半导体基板的表面并排设置;高浓度N型区域,其形成在所述P型阱区域的表面附近;以及高浓度P型区域,其形成在所述N型阱区域的表面附近。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的