[发明专利]半导体装置及其制造方法无效
申请号: | 200810178685.3 | 申请日: | 2008-11-27 |
公开(公告)号: | CN101447501A | 公开(公告)日: | 2009-06-03 |
发明(设计)人: | 茂庭昌弘;新田文彦;松冈正道;饭田里志 | 申请(专利权)人: | 株式会社瑞萨科技 |
主分类号: | H01L27/24 | 分类号: | H01L27/24;H01L23/522;H01L21/822;H01L21/768;G11C16/02;G11C11/56 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 闫小龙;王小衡 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及半导体装置及其制造方法。提供在搭载相变存储器和逻辑电路的存储器混载逻辑芯片中,将相变元件配置最下层布线之下的结构,也不会导致成本增加,并且防止动作电流增大的结构。多个接触插塞(CP0)中的到达成为MOS晶体管Q1的漏极层的扩散层(3)的接触插塞的端部与选择性地配置在层间绝缘膜(IL1)上的薄膜绝缘膜(19)的下表面接触。在该薄膜绝缘膜(19)上配置由作为硫族化物化合物系的相变材料的GST构成的相变膜(20),在其上配置上部电极(21)。多个接触插塞(CP0)中的达到成为源极层的扩散层(3)的接触插塞的端部直接连接到贯通层间绝缘膜(IL2)的接触插塞(CP1)的端部上。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种半导体装置,其中,具备:配置在半导体衬底上的场效应晶体管;覆盖所述场效应晶体管的第一层间绝缘膜;覆盖所述第一层间绝缘膜的第二层间绝缘膜;具有根据所述场效应晶体管的主电流而能够相变为结晶状态和非晶质状态的相变膜的相变元件;配置在所述半导体衬底上的多层布线层,所述多层布线层的最下层布线配置在所述第二层间绝缘膜上,所述第一层间绝缘膜具有贯通所述第一层间绝缘膜、并与所述场效应晶体管的第一和第二扩散层接触的多个第一层接触插塞,所述第二层间绝缘膜具有贯通所述第二层间绝缘膜、并与所述最下层布线接触的多个第二层接触插塞,所述相变元件配置在所述第一层间绝缘膜上,并且其下表面与所述多个第一层接触插塞中的到达所述第一扩散层的第一插塞的端面接触,所述多个第一层接触插塞中的到达所述第二扩散层的第二插塞和作为所述多个第二层接触插塞之一的第三插塞直接连接,构成两连插塞。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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