[发明专利]双位U型存储器结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 200810100203.2 申请日: 2008-05-16
公开(公告)号: CN101582454A 公开(公告)日: 2009-11-18
发明(设计)人: 廖伟明;王哲麒 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L29/788 分类号: H01L29/788;H01L29/423;H01L29/06;H01L27/115;H01L21/336;H01L21/28;H01L21/8247
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 彭久云
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种双位U型存储器结构及其制作方法。本发明披露的存储器其结构特征在于浮动栅极的底部为U型且嵌入在基底中。本发明的存储器结构包含基底;控制栅极,设于基底表面;浮动栅极,设于控制栅极的两侧,其中浮动栅极具有U形底部嵌入于基底中;第一介电层,介于控制栅极与基底之间;第二介电层,介于浮动栅极的U形底部与基底之间;第三介电层,介于控制栅极与浮动栅极之间;局部掺杂区,设于浮动栅极正下方的U形浮动栅极沟道;以及源极/漏极掺杂区,设于浮动栅极的一侧的基底中。
搜索关键词: 存储器 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种存储器元件结构,包含:基底;控制栅极,设于该基底表面;浮动栅极,设于该控制栅极的两侧,其中该浮动栅极具有U形底部嵌入于该基底中;第一介电层,介于该控制栅极与该基底之间;第二介电层,介于该浮动栅极的该U形底部与该基底之间;第三介电层,介于该控制栅极与该浮动栅极之间;局部掺杂区,设于该浮动栅极正下方的U形浮动栅极沟道的周围;以及源极/漏极掺杂区,设于该浮动栅极的一侧的该基底中。
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