[发明专利]半导体装置及半导体装置的制造方法无效
申请号: | 200710001721.4 | 申请日: | 2007-01-16 |
公开(公告)号: | CN101005085A | 公开(公告)日: | 2007-07-25 |
发明(设计)人: | 泷泽照夫 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/762;H01L21/84 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 以覆盖第一半导体层(13)的方式在半导体基板(11)上形成第二半导体层(14),以覆盖第三半导体层(15)的方式在第二半导体层(14)上形成第四半导体层(17),以覆盖第五半导体层(18)的方式在第四半导体层(17)上形成第六半导体层(20)之后,蚀刻去除第一半导体层(13)、第三半导体层(15)及第五半导体层(18),在半导体基板(11)和第二半导体层(14)之间的空洞部(30a)形成埋入绝缘层(31a),在第二半导体层(14)和第四半导体层(17)之间的空洞部(30b)形成埋入绝缘层(31b),在第四半导体层(17)和第六半导体层(20)之间的空洞部(30c)形成埋入绝缘层(31c)。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种半导体装置,具备:半导体层,在半导体基板上通过外延生长而形成;第一埋入绝缘层,在所述半导体层下的第一区域埋入;和第二埋入绝缘层,在所述半导体层下的第二区域的、比所述第一埋入绝缘层还要深的位置埋入。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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