[发明专利]适用于高频操作中去耦应用的沟槽电容器有效
| 申请号: | 200680041428.4 | 申请日: | 2006-11-03 |
| 公开(公告)号: | CN101305448A | 公开(公告)日: | 2008-11-12 |
| 发明(设计)人: | 马里昂·曼特斯-卡姆-梅耶尔 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | 本发明涉及电容器(500)、包括电容器的电子电路、电子元件以及形成电容器的方法。在本发明的电容器中,电流路径区(530)从两个沟槽电容器之一延伸至相应的接触结构(520)。把衬底从初始衬底厚度减薄至减小的衬底厚度,以获得本发明电容器的电流路径区,所述衬底可以是包括电容器区的横向衬底部分也可以是在形成第一和第二接触结构之前整个侧向延伸的衬底。本发明电容器具有表现出电流路径区减小阻抗的优势。该减小的阻抗意味着由电容器电流路径区造成的低自感和自阻。低自感在电路配置的加宽频谱范围上提供了改进信号压制,所述电路配置将本发明电容器作为信号线和地面电势之间的旁路电容器。 | ||
| 搜索关键词: | 适用于 高频 操作 中去耦 应用 沟槽 电容器 | ||
【主权项】:
1.一种电容器(500,800,900,1000,1100,1200,1300),包括:衬底(502,802,902,1002,1102,1202,1302),所述衬底包括第一衬底面(506)和相对的第二衬底面(526);电容器区(524),所述电容器区嵌入在所述衬底中并且包括至少一个层结构,所述层结构具有彼此电隔离的第一和第二电容器电极以及在与第一和第二衬底面垂直的平面内具有U-型截面轮廓,所述第一和第二电容器电极分别与第一(508,510,516,518,520)和第二(528)接触结构电连接;以及电流路径区(530,830,930,1030),所述电流路径区从第一电容器电极(524)延伸至第一接触结构(520,820,928,1020)以及配置用于为电流提供路径,其中所述衬底包括凹槽(504,804,904,1004,1104,1204),所述凹槽在包括电容器区(524,824,924,1024,1124,1224)的横向横向衬底部分的第一衬底面上,所述凹槽包括具有接触元件(520)的底面(522),所述接触元件(520)是第一接触结构的一部分,使得将电容器区(524,824,924,1024)和电流路径区(530,830,930,1030)设置在所述接触元件(520)和所述第二衬底面(526)上的第二接触结构(526,826,926,1026)之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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