[发明专利]正性光致抗蚀剂组合物、厚膜光致抗蚀剂层压材料、用于制备厚膜抗蚀剂图案的方法以及用于制备接线端子的方法无效

专利信息
申请号: 200680009936.4 申请日: 2006-03-28
公开(公告)号: CN101248390A 公开(公告)日: 2008-08-20
发明(设计)人: 三隅浩一;鹫尾泰史;先崎尊博;斋藤宏二 申请(专利权)人: 东京应化工业株式会社
主分类号: G03F7/004 分类号: G03F7/004;G03F7/039;H01L21/60
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 陈长会
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 这种正性光致抗蚀剂组合物是用于曝光到具有选自g-射线、h-射线和i-射线中的一种或多种波长的光的正性光致抗蚀剂组合物,该组合物包括:(A)在活性射线或辐射的辐照下产生酸的化合物,和(B)树脂,所述的树脂在碱中的溶解性通过酸的作用得到提高,其中所述组分(A)包含在阳离子部分具有萘环的鎓盐(A1)。
搜索关键词: 正性光致抗蚀剂 组合 厚膜光致抗蚀剂 层压 材料 用于 制备 厚膜抗蚀剂 图案 方法 以及 接线
【主权项】:
1.一种用于曝光到具有选自g-射线、h-射线和i-射线中的一种或多种波长的光的正性光致抗蚀剂组合物,所述组合物包括:(A)在活性射线或辐射的辐照下产生酸的化合物,和(B)树脂,所述的树脂在碱中的溶解性通过酸的作用得到提高,其中所述组分(A)包含在阳离子部分具有萘环的鎓盐(A1)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京应化工业株式会社,未经东京应化工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680009936.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top