[发明专利]半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610068050.9 申请日: 2006-03-24
公开(公告)号: CN1858907A 公开(公告)日: 2006-11-08
发明(设计)人: 吉田裕一 申请(专利权)人: 冲电气工业株式会社
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L25/065;H01L25/18;H01L23/488;H01L23/31;H01L21/60;H01L21/56;H01L21/50
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明谋求半导体芯片叠层型半导体器件中纵横尺寸的小型化。在引线框架(10)的芯片搭载用芯片焊盘(11)上错开地叠层了第1、第2、第3、第4这4层半导体芯片(20-1~20-4),中间插入了绝缘性垫片(30),而且都容纳在该芯片焊盘(11)内,整体由树脂密封部件(40)密封。上侧的半导体芯片(20-2、20-4)与下侧的半导体芯片(20-1、20-3)之间的信号的收发通过由引线(31)连接的多个电极焊盘进行。第2及第3半导体芯片(20-2、20-3)端部的第1边(20-2a、20-3a)重合设置。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于,具有:第1半导体芯片,表面上形成有沿着第1边形成的第1电极焊盘、沿着与上述第1边相对的第2边形成的第2电极焊盘、以及沿着上述第2电极焊盘形成且与上述第1电极焊盘电连接的第3电极焊盘;第2、第3及第4半导体芯片,具有与上述第1半导体芯片相同的结构,其中在芯片焊盘上设置有上述第1半导体芯片,在上述第1半导体芯片上设置有上述第2半导体芯片,露出了上述第1半导体芯片的上述第2及第3电极焊盘,并且突出了端部,设置有垫片,露出了上述第2半导体芯片的上述第1、第2及第3电极焊盘,在上述垫片上设置有上述第3半导体芯片,在上述第3半导体芯片上设置有上述第4半导体芯片,露出了上述第3半导体芯片的上述第2及第3电极焊盘,并且突出了端部,上述第1及第2半导体芯片的上述各第3电极焊盘之间电连接,并且上述第3及第4半导体芯片的上述各第3电极焊盘之间电连接,上述第2及第4半导体芯片的上述各第1电极焊盘与外部端子电连接,并且上述第1及第3半导体芯片的上述各第2电极焊盘与外部端子电连接,用树脂密封了上述第1、第2、第3、第4半导体芯片、上述芯片焊盘、上述垫片及上述外部端子,露出了上述外部端子的一部分。
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