[发明专利]半导体芯片封装设备和抛光处理半导体芯片封装的方法无效

专利信息
申请号: 200610003647.5 申请日: 2006-01-09
公开(公告)号: CN1822340A 公开(公告)日: 2006-08-23
发明(设计)人: 郑世泳;金南锡;李晟基;崔熺国;丁起权;朴泰成;中平佳邦;李相协;金成焕 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/28;H01L21/48
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 公开了半导体芯片封装设备和方法的示例实施例。该封装设备包括:电镀单元,执行导电电镀工艺以在半导体芯片封装的外部端子上形成导电电镀层;以及回流单元,熔化所述导电电镀层。所述电镀单元和回流单元可以设置成单一生产线。这样就有可能有效地抑制在外部端子的电镀层上生长金属须并确保经济效率,减少成本以及允许批量生产。
搜索关键词: 半导体 芯片 封装 设备 抛光 处理 方法
【主权项】:
1.一种半导体芯片封装设备,包括:电镀单元,适于在半导体芯片封装的外部端子上形成导电电镀层;以及回流单元,适于熔化所述电镀层,与所述电镀单元配置在一条生产线中。
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