[实用新型]微观物体三维形貌光学测量装置无效

专利信息
申请号: 200520096777.9 申请日: 2005-06-16
公开(公告)号: CN2804794Y 公开(公告)日: 2006-08-09
发明(设计)人: 吕植勇;严新平;萧汉梁;吴青;赵辉;李大光;何晓昀 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02
代理公司: 武汉开元专利代理有限责任公司 代理人: 潘杰
地址: 430070湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型涉及一种微观物体三维形貌光学测量装置,由显微镜、CCD摄像头和计算机构成,其中CCD摄像头设置在显微镜上,CCD摄像头的数据输出端与计算机相连接,其特点是:在显微镜纵轴方向移动旋钮旁设置有一个光电读入头,光电读入头的输出通过一个计数和传输电路与计算机相连接。本实用新型的作用是:使用普通光学显微镜记录平面图像并重构测量物体表面高度信息,实现了使用二维图像记录物体的三维信息。
搜索关键词: 微观 物体 三维 形貌 光学 测量 装置
【主权项】:
1、一种微观物体三维形貌光学测量装置,由显微镜(10)、CCD摄像头(7)和计算机(9)构成,其中CCD摄像头(7)设置在显微镜(10)上,CCD摄像头(7)的数据输出端与计算机(9)相连接,其特征在于:在显微镜(10)纵轴方向移动旋钮(12)旁设置有一个光电读入头(11),光电读入头(11)的输出通过一个计数和传输电路(14)与计算机(9)相连接。
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