[发明专利]半导体结构及其应用、尤其是限制过电压的应用无效

专利信息
申请号: 200410079820.0 申请日: 2004-09-20
公开(公告)号: CN1599069A 公开(公告)日: 2005-03-23
发明(设计)人: 弗朗茨·迪茨;米夏埃多·格拉夫 申请(专利权)人: ATMEL德国有限公司
主分类号: H01L27/082 分类号: H01L27/082;H01L23/62;H01L23/60
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 曾立
地址: 联邦德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 半导体结构,具有:一个衬底;一个第一导电类型的半导体层,该层设置在衬底上及通过一个绝缘层与衬底隔开;第二导电类型的、构成在半导体层中的彼此间隔开的第一及第二层;第一导电类型的、构成在半导体层中的第三层,它与第二层形成接触;与第一层相接触的第一电极;与第二及第三层相接触的第二电极;第一导电类型的、构成在半导体层中的第四层,该层包围第二及第三层,其中该层分别与第二及第三层直接接触;及第一导电类型的、构成在半导体层中第一层下面的、具有相对该半导体层增高的搀杂的第五层;其中第一层基本上环形地围绕着第二、第三及第四层。该可单片集成的半导体结构,除应用于集成电路上过电压的可靠限制外也适于用作普通二极管。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 应用 尤其是 限制 过电压
【主权项】:
1.半导体结构(1),它具有:-一个衬底(3);-一个第一导电类型的半导体层(4),该层设置在该衬底(3)上面及通过一个绝缘层(5)与该衬底隔开;-一个第二导电类型的、构成在该半导体层(4)中的彼此间隔开的一个第一层(6)及一个第二层(7);-该第一导电类型的、一个构成在该半导体层中的第三层(8),它与第二层(7)形成接触;-一个与该第一层(6)相接触的第一电极(17);-一个与该第二层(7)及第三层(8)相接触的第二电极(18);-该第一导电类型的、一个构成在该半导体层(4)中的第四层(9),该层包围该第二层(7)及第三层(8),其中该层分别与第二及第三层直接接触;及-该第一导电类型的、构成在该半导体层(4)中第一层(6)下面的、具有相对该半导体层(4)增高的搀杂的第五层(13);其中该第一层(6)基本上环形地围绕着该第二层(7)、第三层(8)及第四层(9)。
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