[发明专利]晶片装载室有效
申请号: | 200410070050.3 | 申请日: | 2004-08-05 |
公开(公告)号: | CN1604298A | 公开(公告)日: | 2005-04-06 |
发明(设计)人: | 林俊成;潘兴强;李显铭;苏鸿文;周士惟;蔡明兴;眭晓林 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/00;H01L21/203;H01L21/205;H01L21/3065 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王一斌 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种晶片装载室,包括一腔体、一升降台、一伸缩轴以及一蒸气捕捉装置;腔体包括一底表面;升降台是设置于腔体之内;伸缩轴包括一上端及一下端,上端是连结于升降台,下端连接于底表面,其中一润滑剂涂覆于伸缩轴之上;蒸气捕捉装置可防止润滑剂产生的蒸气造成晶片的污染。 | ||
搜索关键词: | 晶片 装载 | ||
【主权项】:
1.一种晶片装载室,其特征在于,包括:一腔体;一升降台,设置于该腔体内;一伸缩轴,支撑该升降台;以及一可伸缩套筒,包覆该伸缩轴。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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