专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]集成电路及其制造方法-CN202110474972.4有效
  • 王柏钧;庄惠中;陈志良;高章瑞;林姿颖 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2021-04-29 - 2023-08-04 - G11C7/10
  • 本文公开的一种集成电路包括第一多个单元行、第二多个单元行、第一时钟反相器和第二时钟反相器以及多个触发器。第二多个单元行布置为邻接第一多个单元行。第一多个单元行中的鳍的第一数量与第二多个单元行中的鳍的第二数量不同。第一时钟反相器和第二时钟反相器布置在第二多个单元行中。多个触发器布置在第一多个单元行和第二多个单元行中。多个触发器包括被配置为响应于第一时钟和第二时钟信号而运行的第一多个触发器。本发明的实施例还涉及制造集成电路的方法。
  • 集成电路及其制造方法
  • [发明专利]集成电路及其形成方法-CN202310162064.0在审
  • 吴家骏;陈志良;庄惠中;高章瑞;简永溱 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2023-02-24 - 2023-07-04 - H01L27/02
  • 提供了一种集成电路及其形成方法。集成电路包括沿第一方向延伸的第一和第二有源区,以及沿第二方向延伸的浮置栅极、第一伪栅极、第一导体和第二导体。浮置栅极是电浮置的。第一伪栅极在第二方向上与浮置栅极分离。伪栅极和浮置栅极将对应于第一晶体管的第一单元与对应于第二晶体管的第二单元分离。第一和第二导体在第一方向上彼此分离,并与第二有源区重叠。第一和第二导体电耦合到第二有源区的对应源极/漏极,并且被配置为向第二有源区的对应源极/漏极提供相同信号/电压。浮置栅极位于第一和第二导体之间。
  • 集成电路及其形成方法
  • [发明专利]IC器件及其制造方法-CN202210927340.3在审
  • 王奕文;吴家骏;庄惠中;简永溱;高章瑞;陈向东 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-08-03 - 2023-06-09 - H01L27/118
  • 本发明的实施例提供了一种IC器件,包括:沿第一方向延伸并且承载电源和参考电压中的一个的第一电源轨和第二电源轨;在第一电源轨和第二电源轨之间延伸并且承载电源和参考电压中的另一个的第三电源轨;以及多个晶体管,包括在第一电源轨和第二电源轨之间延伸的第一有源区至第四有源区、垂直于第一方向延伸的多个栅极结构,以及在第二方向上延伸穿过第三电源轨的第一导电段和第二导电段。第二有源区和第三有源区的每个都与第三电源轨相邻,第一导电段和第二导电段的每个都电连接至第二有源区和第三有源区的每个中的S/D结构,并且多个晶体管被配置为AOI、OAI和四输入NAND中的一个。本发明的实施例还提供了一种制造IC器件的方法。
  • ic器件及其制造方法
  • [发明专利]电子装置、传输系统及传输方法-CN202210416839.8在审
  • 高章瑞;陈皇宇;简永溱;林姿颖;马伟翔;王中兴 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-04-20 - 2022-12-27 - G06F15/17
  • 一种电子装置、传输系统及传输方法,电子装置包含多个通道及多个处理节点。每个处理节点包括耦合到通道的输入/输出(I/O)端口及耦合到I/O端口的通道控制模块。每个处理节点经配置为:通过第一操作中的通道控制模块选择I/O端口的第一I/O端口;经由第一I/O端口将第一讯息通讯到在逻辑表示中在第一通道上方的第一处理节点或在与第一通道正交的第二通道上方的第二处理节点;通过第二操作中的通道控制模块选择I/O端口的第二I/O端口;以及经由第二I/O端口将第二讯息通讯到在第三通道上方的第三处理节点,此第三通道在逻辑表示中在对角方向上延伸并且不与第一及第二通道正交。
  • 电子装置传输系统方法
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN202210705582.8在审
  • 林钲祐;范忆霖;庄惠中;陈胜雄;高章瑞;陈向东 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-06-21 - 2022-10-21 - H01L21/8238
  • 半导体器件的单元区包括沿第一方向延伸的第一隔离伪栅极和第二隔离伪栅极。半导体器件还包括沿第一方向延伸且位于第一隔离伪栅极与第二隔离伪栅极之间的第一栅极。该半导体器件包括沿第一方向延伸的第二栅极,第二栅极相对于垂直于第一方向的第二方向位于第一隔离伪栅极与第二隔离伪栅极之间。该半导体器件还包括第一有源区和第二有源区。第一有源区沿第二方向在第一隔离伪栅极与第二隔离伪栅极之间延伸。第一有源区在第二方向上具有第一长度,并且第二有源区在第二方向上具有不同于第一长度的第二长度。本发明的实施例还提供了半导体器件和形成半导体器件的方法。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]集成电路及其制造方法-CN202110880560.0在审
  • 陈胜雄;高章瑞;杨国男;刘逸群 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2021-08-02 - 2022-09-27 - H01L23/528
  • 一种集成电路及其制造方法,集成电路包括装置、在装置之上设置的第一互连结构及在装置之下定位的第二互连结构。第一互连结构包括多个前侧金属层。第二互连结构包括多个背侧金属层,其中每个背侧金属层包括根据对角布线来布线的金属导体。在一些实施例中,背侧互连结构可以包括另一背侧金属层,此背侧金属层包括根据混合曼哈顿对角布线来布线的金属导体。各种技术可以用于在背侧互连结构中的金属导体与一或多个前侧金属层上的单元之间布线信号。
  • 集成电路及其制造方法
  • [发明专利]设计集成电路的方法及系统-CN202210141396.6在审
  • 陈胜雄;陈皇宇;王中兴;高章瑞 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-02-16 - 2022-09-27 - G06F30/394
  • 一种设计集成电路的方法及系统,通过一处理装置决定该集成电路中的多个部件的一布置;通过该处理装置基于该布置决定该集成电路中的每个相应网的一树状结构;通过该处理装置决定用于多个导体的曼哈顿布线的多个导体层的一数量,该决定的操作包含基于多个曼哈顿边缘的一总长度或该些曼哈顿边缘的一总计数计算该些树状结构中的该些曼哈顿边缘的一第一比率;通过该处理装置决定用于多个导体的对角布线的多个导体层的一数量,该决定的操作包括基于多个对角边缘的一总长度或该些对角边缘的一总计数计算该些树状结构中的该些对角边缘的一第二比率;通过该处理装置基于该第一比率及该第二比率选择该集成电路的一导体方案;以及产生该集成电路的一布局。
  • 设计集成电路方法系统

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