专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种区熔硅单晶的分段式转肩方法-CN202211559984.8在审
  • 尚锐刚;王永涛;刘建涛;李明飞;闫志瑞;高源;聂飞 - 有研半导体硅材料股份公司
  • 2022-12-06 - 2023-05-05 - C30B13/30
  • 本发明公开了一种区熔硅单晶的分段式转肩方法,包括步骤:(1)设定分段式转肩直径位置,设定值比目标直径小5mm;(2)设定单晶加热功率曲线参数及生长角度;在单晶直径到达转肩直径前,单晶加热功率按照单晶直径的增长而增加;在单晶直径超过转肩直径后,单晶加热功率不再与单晶直径正相关,而与单晶生长长度正相关;单晶直径接近目标直径时,单晶生长角度会有先减小后增加,然后逐渐减小,单晶直径到达目标直径时,减少至0;(3)按照设定的加热功率参数和生长角度进行单晶生长。本发明可将转肩直径波动可降低至1mm以内,减小了转肩长度,并且显著提高了转肩成功率和产品收率。
  • 一种区熔硅单晶段式方法
  • [发明专利]一种区熔硅单晶的收尾方法-CN201911262992.4有效
  • 尚锐刚;王永涛;白杜鹃;刘建涛;崔彬;闫志瑞;高源;李明飞;聂飞 - 有研半导体硅材料股份公司
  • 2019-12-10 - 2022-05-20 - C30B13/28
  • 本发明公开了一种区熔硅单晶的收尾方法,包括以下步骤:(1)当多晶尾料剩余10kg时,继续保持等径生长,直至多晶尾料剩余2kg时,均匀降低多晶尾料速度直至多晶尾料速度归零后快速提断,晶体拉速和加热功率保持不变,此过程单晶直径将缓慢减小;(2)当多晶尾料提断后,保持多晶尾料向提拉的方向移动,开启自动程序控制加热功率曲线和晶体拉速曲线,功率曲线先均匀快速地下降至初始功率值的75%‑85%,再缓慢均匀增加,最高不超过初始功率值;晶体拉速匀速降低至0,直至单晶熔体完全结晶后停炉冷却即可。本发明的方法可将单晶尾部损失降低至8kg以下。通过此方法收尾成功率大幅提升,可达90%以上,综合收率提高10%以上。
  • 一种区熔硅单晶收尾方法
  • [发明专利]一种12英寸硅片减薄的工艺方法-CN202111593664.X在审
  • 陈海滨;库黎明;路一辰;王玥;刘云霞;闫志瑞 - 山东有研艾斯半导体材料有限公司
  • 2021-12-23 - 2022-04-08 - B24B1/00
  • 本发明公开了一种12英寸硅片减薄的工艺方法,所使用的减薄装置包括竖直放置的的载片圈、位于载片圈左右两侧的两个圆形的静压盘,两个静压盘在靠近载片圈的一侧分别具有用于安装左砂轮和右砂轮的空间,在位于各砂轮安装部位周围的静压盘上均匀分布有3个气孔和3个水孔;在位于静压盘上方的位置安装有齿轮,该齿轮带动载片圈转动;该方法包括如下步骤:(1)预先调整左右两个砂轮与待加工的硅片处于平行状态;(2)将倒角完成的切片垂直放入载片圈里,从气孔通入空气,并从水孔通入去离子水,使硅片保持平衡;(3)在减薄过程中,控制载片圈转速在0‑30rpm之间;控制左右两个砂轮的转速在2000‑6000rpm之间,砂轮给进速度在减薄过程中呈阶梯递减的方式。
  • 一种12英寸硅片工艺方法
  • [发明专利]一种改善硅片R型轮廓的边缘抛光工艺-CN202111502766.6在审
  • 路一辰;库黎明;王玥;陈海滨;陈信;刘云霞;闫志瑞 - 山东有研艾斯半导体材料有限公司
  • 2021-12-09 - 2022-04-08 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种改善硅片R型轮廓的边缘抛光工艺,包括以下步骤:(1)对硅片进行寻参处理:使用边缘抛光机寻找硅片的V槽,使硅片的V槽与槽口抛光布对准;(2)对硅片的V槽进行抛光处理;(3)将完成V槽抛光的硅片进行对心处理,使硅片圆心与机台圆心对准;(4)将完成对心处理的硅片进行圆边边缘抛光处理,所使用的抛光鼓包括斜边抛光鼓和顶端抛光鼓,斜边抛光鼓加工角度范围为25°~70°,顶端抛光鼓加工角度为70°~90°。本发明通过改进圆边边缘抛光工艺,使用特殊构造的抛光鼓,并控制其中斜边抛光鼓与顶端抛光鼓的加工角度范围,使硅片整个边缘均匀抛光,避免固定角度的抛光鼓对边缘造成的局部过度抛光或失效抛光。
  • 一种改善硅片轮廓边缘抛光工艺
  • [发明专利]一种12英寸硅抛光片加工的工艺方法-CN201911280084.8在审
  • 陈海滨;闫志瑞;库黎明;朱秦发;苏冰 - 有研半导体材料有限公司
  • 2019-12-12 - 2021-06-15 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种12英寸硅抛光片加工的工艺方法。该工艺方法包括以下步骤:(1)将双面抛光好的12英寸硅片进行NOTCH抛光并进行边缘抛光,然后放入片盒里,片盒放入盛有纯水的常温水槽里;(2)将装有硅片的片盒放入1号液清洗,然后放入2号液清洗;1号液的成分组成为:氨水∶双氧水∶纯水=1∶1∶5~1∶5∶10(体积比),2号液的成分组成为:盐酸∶双氧水∶纯水=1∶1∶5~1∶5∶10(体积比);(3)将清洗完的装有硅片的片盒放入温水的水槽里,然后缓慢往上提拉达到干燥的目的。采用本发明的工艺方法可以制造表面颗粒和金属含量低的12英寸硅片,有利于该12英寸硅片精抛后表面颗粒和金属的降低。
  • 一种12英寸抛光加工工艺方法
  • [发明专利]一种硅电极加工的工艺方法-CN201911254218.9在审
  • 陈海滨;闫志瑞;库黎明;朱秦发;苏冰 - 有研半导体材料有限公司
  • 2019-12-06 - 2021-06-08 - H01J37/317
  • 本发明公开了一种硅电极加工的工艺方法。该工艺方法包括以下步骤:(1)将从加工中心加工好的硅电极进行超声清洗、烘干,然后将硅电极放在双面抛光机的游轮片上进行第一次抛光;(2)将抛光完的硅电极进行超声清洗、烘干,然后用夹具装硅电极放入盛有混酸的腐蚀槽进行腐蚀,混酸的配比为:氢氟酸45%‑65%∶硝酸45%‑65%∶冰醋酸98%=50%‑70%∶10%‑30%∶10%‑20%;(3)将腐蚀完的硅电极超声清洗、烘干,然后将硅电极放在双面抛光机的游轮片上进行第二次抛光;(4)将抛光完的硅电极进行超声清洗、HF酸洗、烘干。采用本发明的工艺方法可以制造导气孔直径一致性很高的硅电极,该硅电极的离子注入精度很好。
  • 一种电极加工工艺方法
  • [发明专利]一种12英寸硅片精密磨削加工的装置和方法-CN202011554850.8在审
  • 陈海滨;闫志瑞;库黎明;高立飞 - 有研半导体材料有限公司
  • 2020-12-23 - 2021-04-30 - B24B7/22
  • 本发明公开了一种12英寸硅片精密磨削加工的装置和方法。该装置包括:用于放置花篮的载片台、取片机械手、定位台、第一转移机械手、清洗台、旋转平台、第二转移机械手、干燥台;旋转平台上设有三个陶瓷吸盘,三个陶瓷吸盘围绕旋转平台中心以120度夹角均匀分布,并可以依次在旋转平台的等待位置、粗磨位置、精磨位置进行顺时针切换;旋转平台设有分别与粗磨位置和精磨位置对应的第一主轴和第二主轴,第一主轴和第二主轴均由步进电机控制做上下运动,第一主轴和第二主轴的底端分别安装有砂轮;在旋转平台上设有两个测厚仪,分别用于测量粗磨位置的硅片厚度和精磨位置的硅片厚度。采用本发明可以制造硅片精度更高的12英寸硅片,同时效率更高。
  • 一种12英寸硅片精密磨削加工装置方法
  • [发明专利]一种硅环加工的工艺方法-CN201811585961.8有效
  • 陈海滨;闫志瑞;库黎明;朱秦发;史训达 - 有研半导体材料有限公司
  • 2018-12-24 - 2021-03-30 - B23B1/00
  • 本发明公开了一种硅环加工的工艺方法,包括以下步骤:(1)将硅环固定在卡盘上,先将目数较小的普通刀具固定在刀架上,开动机器,让卡盘和刀具旋转,将硅环外径去除0.5mm;(2)换一把目数较大的普通刀具将硅环外径去除0.3mm;(3)换上特殊刀具固定在刀架上,该特殊刀具具有圆柱部分和斜面部分,其中刀具的圆柱部分用来研磨硅环外径,刀具的斜面部分用来对硅环外径进行倒角,用刀具的圆柱部分研磨硅环外径到目标直径;然后用刀具的斜面部分先后倒角硅环外径的左边和右边;(4)将加工好的硅环进行双面研磨、加工中心做内径、定位孔及卡槽。采用本发明的工艺方法可以制造外径倒角质量非常高的硅环,硅环外径倒角一致性好,无崩边,无污染,无毒害。
  • 一种加工工艺方法
  • [发明专利]一种区熔气掺单晶硅的供气系统-CN201711011615.4有效
  • 尚锐刚;王永涛;白杜娟;孟雪莹;李明飞;闫志瑞 - 有研半导体材料有限公司
  • 2017-10-25 - 2020-12-18 - F17D1/04
  • 本发明公开了一种区熔气掺单晶硅的供气系统,包括:供气装置、气体分流装置和管道清扫装置;其中,所述供气装置包括至少两个气瓶,每个所述气瓶中的气体浓度不同;所述气体分流装置中设置有与所述供气装置的所述气瓶对应的至少两个储气装置,用于对多台设备同时供应不同浓度的气体;所述管道清扫装置包括高纯氮气瓶和真空发生器,高纯氮气瓶通过供气管道分别连接至供气装置的各气瓶与储气装置的供气管道上,高纯氮气瓶另通过供气管道连接真空发生器,然后连接至供气装置的各气瓶与储气装置的供气管道上,用于为所述供气装置供应高纯氮气。采用本发明的供气系统,可在不更换气源的情况下,生产更宽电阻率范围的区熔单晶硅,提高了生产效率。
  • 一种区熔气掺单晶硅供气系统
  • [发明专利]一种硅片制造工艺-CN202010938546.7在审
  • 库黎明;闫志瑞;陈海滨 - 有研半导体材料有限公司
  • 2020-09-08 - 2020-12-11 - B24B1/00
  • 本发明公开了一种硅片制造工艺。该工艺包括以下步骤:(1)在研磨和腐蚀后,对硅片进行抛光;(2)在硅片抛光后对硅片进行预清洗,去除硅片表面的磨料残留;(3)对硅片进行低温退火;(4)对低温退火的硅片进行最终清洗,去除步骤(3)中的表面金属残留,最后对金属水平进行检测。本发明的硅片制造工艺在最终清洗前用退火炉对硅片进行低温退火,使硅片体内金属扩散到表面,再经过最终清洗工艺进行去除。通过该工艺加工后的硅片,可以有效地降低硅片表面的金属沾污水平,特别是随着时间延长,表面金属水平保持稳定,提高硅单晶的合格率。
  • 一种硅片制造工艺
  • [发明专利]一种硅环加工的工艺-CN201811585962.2在审
  • 陈海滨;闫志瑞;库黎明;朱秦发;史训达 - 有研半导体材料有限公司
  • 2018-12-24 - 2020-06-30 - H01L21/304
  • 本发明公开了一种硅环加工的工艺。该工艺包括以下步骤:(1)将硅环依次进行外径研磨、双面研磨、加工中心做硅环一面上的内径和定位孔、加工中心做硅环另一面上的卡槽,其中加工中心做卡槽时,先用目数在10‑1000目之间的刀具和对应的加工程序加工出卡槽,然后用目数在1000‑3000目之间的刀具和对应的抛光程序抛光卡槽;(2)将机加工好的硅环依次进行腐蚀、双面抛光、清洗。采用本发明的工艺可以制造卡槽表面质量非常高的的硅环,硅环尺寸精度可控,省时省力,无污染,无毒害。
  • 一种加工工艺
  • [发明专利]一种用于加工硅环的方法-CN201811529060.7在审
  • 库黎明;闫志瑞;朱秦发;陈海滨;李亚光 - 有研半导体材料有限公司
  • 2018-12-13 - 2020-06-23 - B24B41/06
  • 本发明公开了一种用于加工硅环的方法,包括以下步骤:(1)将可以旋转的装置安装在加工中心作业平台上;将硅环固定在该装置上,并用加工中心对硅环进行定位;(2)调节旋转装置的自转速度,硅环随着装置进行旋转,使用加工中心对硅环的内外径、表面和异形部分进行机加工;(3)加工结束时,取下硅环进行清洗。本发明利用加工中心加工圆形硅环时使硅环进行自转,对硅环的外径和内径进行加工,可以通过旋转装置调整硅环的自转速度来达到所需要的内外径表面。本发明的方法简单易行,大大降低了外径表面处理时间,明显提高了硅环加工效率和质量。
  • 一种用于加工方法
  • [发明专利]一种气相掺杂区熔硅单晶的制备方法-CN201811476667.3在审
  • 王永涛;尚锐刚;刘建涛;李明飞;鲁进军;张建;闫志瑞 - 有研半导体材料有限公司
  • 2018-12-04 - 2020-06-12 - C30B13/12
  • 本发明公开了一种气相掺杂区熔硅单晶的制备方法,包括以下步骤:(1)将一次多晶按正常的区熔拉晶工艺拉制成单晶或多晶;(2)将拉制成的单晶或多晶再次磨锥、刻槽、清洗、干燥;(3)将处理后的单晶或多晶装炉,并按目标电阻率设置掺杂流量,并按正常气相掺杂区熔拉晶工艺完成单晶拉制。根据本发明制备气相掺杂区熔硅单晶的方法,通过第一次的拉制,将硅芯内的杂质尽可能均匀的分布在拉制成的整个单晶或多晶内,而不是局限在硅芯内,从而降低因硅芯杂质搅拌不均匀造成的气相掺杂区熔硅单晶中心电阻率的波动,有效降低了单晶轴向及径向的电阻率不均匀性,提高了气相掺杂区熔单晶的目标电阻率命中率及稳定性。
  • 一种掺杂区熔硅单晶制备方法

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