专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果114个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]快闪存储器的缺陷检测方法、耐久测试方法和制造方法-CN201710241890.9有效
  • 徐涛;曹子贵;谢中华;钱亮;陈宏;王卉 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2017-04-14 - 2019-12-10 - G11C29/44
  • 本发明提供一种快闪存储器的缺陷检测方法、耐久测试方法和制造方法,所述缺陷检测方法和耐久测试方法,通过选择快闪存储器芯片的奇数扇区或者偶数扇区来进行擦除,可以使快闪存储器芯片中的浅沟槽隔离结构中的多晶硅残留与相邻的至少一条字线短接或者由于被擦除而带正电荷,并在多晶硅残留带正电荷后施加更大的编程电流以及更长的编程时间来进行编程串扰测试,从而将快闪存储器中具有多晶硅残留的存储单元以编程串扰失效的形式快速、有效地检测出来,从而避免了后续产品在使用过程中所出现的可靠性问题。所述制造方法能够根据所述缺陷检测方法或所述耐久测试方法的结果来调整制造工艺参数,避免浅沟槽隔离结构中出现空洞缺陷,提高产品可靠性。
  • 闪存缺陷检测方法耐久测试制造

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top