“英特尔产品（成都）有限公司”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果250个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]电子压力调节器诊断系统及方法-CN201710924068.2有效
发明人：林飞;陈翔;张杰 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2017-09-30 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明提供用于诊断设备工作状态的诊断系统和方法，该诊断系统包括：仿真单元，具有输入/输出接口，其提供可模拟设备的工作条件的输入信号给该设备，并接收来自所述设备的对所述输入信号响应的输出致动信号，该输入信号包括电子控制信号与输入致动信号；显示单元，用于同步地显示基准信号与述输出致动信号，以呈现所述基准信号与输出致动信号的拟合程度。本发明可以离线仿真E‑P调节器的真实工作环境并快速地判断E‑P调节器的工作状态。而且，利用本发明的诊断工具，还可以判断所述E‑P调节器是否有修改的可能性。
电子压力调节器诊断系统方法

[发明专利]一种用于老化测试的方法、装置和设备-CN201711212555.2有效
发明人：杨涛 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2017-11-28 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于老化测试的方法、装置和设备，该方法包括：在对电子产品进行老化测试时，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述电子产品的至少一个功能区施加第一组测试电压中的其中一个测试电压；以及，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区施加第二组测试电压中的其中一个测试电压，其中，在所述老化测试中所述第一组时间段在所述第二组时间段之前，以及，所述第一组测试电压中的测试电压大于所述第二组测试电压中的测试电压。该方法、装置和设备能够在不增大电子产品出现热失控的风险且确保老化测试效果的情况下减少电子产品的老化测试时间。
一种用于老化测试方法装置设备

[实用新型]数据连接线接头保护器-CN201821580751.5有效
发明人：李志超 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2018-09-27 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： H01R13/40 文献下载
摘要：本实用新型公开一种数据连接线接头保护器，涉及数据电缆接头连接保护设备技术领域。本实用新型包括用于支撑数据线子接头与数据线母接头的支撑结构，用于固定数据线子接头或数据线母接头的第一固定结构，与第一固定结构对应设置，且用于固定相对于第一固定结构固定的数据线子接头或数据线母接头对应的数据线母接头或数据线子接头的第二固定结构；本申请的保护器，将数据线子接头与数据线母接头之间固定在一起，防止因不受控制的外力导致数据线子接头与数据线母接头之间接触不良或断开连接。
母接头数据线固定结构本实用新型接头保护器数据连接线保护设备断开连接固定数据接触不良接头连接数据电缆支撑结构保护器固定的支撑申请

[发明专利]检测用于晶圆划片的激光光束的质量的方法和装置-CN201910116772.4在审
发明人：杨波;戴杨 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2019-02-15 - 公布日： 2019-05-31 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：本公开描述了检测用于晶圆划片的激光光束的质量的方法和装置。根据本公开的一个方面，一种检测用于晶圆划片的激光光束的质量的方法包括：对采集到的包含所述激光光束照射在晶圆上形成的斑痕形状的图像进行预处理；检测经预处理的图像中的斑痕形状，获得与所述斑痕形状相关联的属性信息；以及基于所获得的与所述斑痕形状相关联的属性信息，判断所述斑痕形状是否符合预定义的标准。
斑痕晶圆激光光束划片预处理方法和装置属性信息检测激光光束照射关联图像预定义种检测采集

[发明专利]用于监测生产设备的方法和装置以及分析设备-CN201810154747.0有效
发明人：刘倩;郑巍;彭义;周童童 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2018-02-23 - 公布日： 2019-05-31 - 主分类号： G07C3/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于监测生产设备的方法和装置，该方法包括：当检测发现生产设备的当前实际产量未达到额定产量时，从所述生产设备的日志文件中检索出对所述生产设备的产量有影响的至少一个参数的运行数据；基于所挖掘的运行数据，获得所述至少一个参数各自的当前实际值；计算所述至少一个参数各自的差异值，其中，所述至少一个参数中的每一个参数的差异值表示该参数的当前实际值与正常值的差异；如果所述至少一个参数中存在其差异值大于指定阈值的一个或多个参数，则发出用于指示所述一个或多个参数异常的警报。利用该方法和装置，能够在不费人力的情况下快速地获知生产设备的产量下降的因素。
生产设备方法和装置运行数据分析设备日志文件监测获知检索警报检测挖掘发现

[发明专利]用于失效类型识别的方法和装置-CN201810538016.6有效
发明人：侯宗林;彭睿博 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2018-05-30 - 公布日： 2019-05-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及用于失效类型识别的方法和装置，该方法包括：获取在芯片的热压结合TCB期间测量的多个TCB关键参数的值；根据所获取的所述多个TCB关键参数的值，设置用于识别所述芯片的TCB导致的任一失效类型的特定TCB关键参数的值，其中，所述任一失效类型指示某种TCB事件导致的某种特定失效，所述特定TCB关键参数是所述多个TCB关键参数中的至少两个；判断所述多个特定TCB关键参数的值是否都位于正常值范围之外；如果判断结果是肯定的，则确定所述芯片发生了所述任一失效类型。利用该方法和装置，能够准确地识别芯片发生的失效类型。
关键参数失效类型方法和装置芯片判断结果热压结合测量

[发明专利]物料添加系统-CN201711478449.9有效
发明人：李静飞 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： B65G47/74 文献下载
摘要：本发明涉及一种物料添加系统，包括：容器，用于存放要向外供应的物料，其在物料添加系统工作时绕着预定轴线做往复圆周运动；陀螺仪，用于测量容器的倾斜角度；传感器，其安装在容器上，用于当在其感测范围内存在/不存在物料时输出表示检测到/未检测到物料的信号；执行机构，可用于向容器加注物料；以及，控制器，其耦合到陀螺仪、所传感器和执行机构，用于当陀螺仪测量的容器的倾斜角度达到预定角度时，基于此时传感器的输出信号来判断容器当前剩余的物料数量是否小于指定数量阈值，以及，当判断结果为肯定时，促使执行机构向容器加注预定数量的物料。该物料添加系统能够减少或避免物料浪费和计划外停机。
物料添加陀螺仪传感器加注往复圆周运动测量容器判断结果输出表示输出信号预定轴线控制器耦合到检测感测可用停机测量

[实用新型]推车-CN201821374968.0有效
发明人：刘春萌 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2018-08-24 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： B62B3/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种推车，包括：由多个构架杆形成的主体框架；安装到主体框架上的底壁；位于推车的侧面的侧壁；位于推车没有形成侧壁的侧面上的侧门；以及安装到主体框架的底部的轮子；其中，在侧门所在侧面上的两个直立的构架杆的相对侧面上分别形成有凹槽，凹槽从与底壁相对应的位置向上延伸并且在顶端形成锁定部，侧门包括水平设置的光滑的门杆，门杆的一端插入在两个直立的构架杆中的一个的凹槽中，门杆的另一端插入在两个直立的构架杆中的另一个的凹槽中，侧门还包括一端连接到门杆上并且另一端连接到底壁的侧表面或底表面上的多条柔性索链。根据本实用新型能够有效地防止对物品或者其包装造成破坏，进而防止物品本身被污染或者被损坏。
侧门构架杆门杆推车主体框架直立本实用新型一端连接侧壁侧面底壁柔性索链水平设置相对侧面向上延伸侧表面有效地光滑轮子锁定污染

[实用新型]一种金属包装开启辅助工具-CN201821581112.0有效
发明人：吴昊 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2018-09-27 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： B65B69/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种金属包装开启辅助工具，本实用新型属于金属包装开启辅助工装工具技术领域，包括可调式夹具和带有滑轨的底板，底板上还设置有支架；所述可调式夹具包括两个对立且均滑动设置在所述滑轨上的夹片，且可调式夹具的两端均设置有带有手柄、用于带动两个夹片在滑轨上相向滑动的夹合结构，是一种采用尺寸可调式设计、适用于多种金属包装盒或箱的开口开启辅助工装工具。
可调式夹具金属包装滑轨底板本实用新型辅助工具辅助工装夹片工具技术领域尺寸可调式金属包装盒手柄滑动设置夹合结构相向滑动支架开口对立

[实用新型]用于支撑物品的平台-CN201821522418.9有效
发明人：胥芸菠 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2018-09-18 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： B66F7/16 文献下载
摘要：本实用新型提供一种用于支撑物品的平台，包括：四个竖直设立的第一主框架杆；将四个所述第一主框架杆中的两个以及另外两个相连的两个第二主框架杆；以及将相连的所述第一主框架杆和所述第二主框架杆相互连接的两个第三主框架杆；其特征在于，所述平台还包括：与两个所述第一主框架杆以及另外两个所述第一主框架杆连接并且能够相对于所述第一主框架杆竖直地移动的两个升降杆；与所述两个升降杆连接并且能够相对于所述升降杆水平地移动的两个横杆；以及用于升降两个所述升降杆的升降机构。在需要对物品从底侧进行检查或维修时，通过采用根据本实用新型的用于支撑物品的平台不仅具有较高的效率，而且还能够提高操作人员的便利性、舒适性和安全性。
主框架杆升降杆本实用新型支撑升降机构竖直设立便利性舒适性横杆移动竖直升降维修检查

[发明专利]基于图像处理的芯片测试座检测-CN201811639239.8在审
发明人：杨维平;冯河洋 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：提供一种用于检测芯片测试座的设备，该芯片测试座包括设置有多个插孔的基座和设置在所述基座上的探针，每个探针设置在一个插孔中，该设备包括连通域确定单元，其确定在芯片测试座的灰度图像中的一个或多个连通域；第一计算单元，其导出每个连通域的最小外接矩形的长宽比和/或最小外接圆的半径；第一缺陷检测单元，其基于该长宽比和/或半径以及对应的预先确定的第一阈值确定在芯片测试座中对应该连通域的位置处是否存在异物或基座破损。由此，实现对芯片测试座的准确高效的缺陷检测，其不依赖于操作者，即使在对大量芯片测试座长时间进行测试时，也能够保证测试的质量。
芯片测试座连通域长宽比插孔探针缺陷检测单元最小外接矩形最小外接圆测试灰度图像计算单元检测芯片缺陷检测确定单元图像处理预先确定阈值确定测试座位置处异物导出破损检测保证

[实用新型]芯片堆叠防止装置及芯片测试系统-CN201821510180.8有效
发明人：张廷梁 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2018-09-14 - 公布日： 2019-04-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及芯片堆叠防止装置及芯片测试系统。该芯片堆叠防止装置包括：芯片加载传感器，设置在芯片拾取装置处，用于感测芯片拾取装置是否要向芯片传送装置加载第二芯片；芯片存在传感器，设置在与芯片传送装置的芯片加载位置对应的位置处，用于感测芯片传送装置的芯片加载位置处是否存在第一芯片；以及信号处理器，与芯片加载传感器和芯片存在传感器电连接，用于接收芯片加载感测信号和芯片存在感测信号，并且在芯片加载感测信号表示要加载第二芯片以及芯片存在感测信号表示芯片传送装置的芯片加载位置处存在第一芯片时，生成用于使得芯片拾取装置工作停止的控制信号。本实用新型能够及时预防芯片检查过程中芯片堆叠的发生。
芯片感测信号加载芯片传送装置防止装置加载位置芯片堆叠芯片测试系统芯片拾取装置本实用新型加载传感器感测芯片传感器信号处理器传送装置工作停止接收芯片控制信号拾取装置芯片检查电连接位置处中芯片堆叠预防

[发明专利]用于基板处理设备间基板传送的控制方法、装置及系统-CN201711482531.9有效
发明人：赵林;李静飞 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： B65G47/52 文献下载
摘要：本申请提供了一种用于控制从流水线中的第一基板处理设备向位于其下游的第二基板处理设备传送基板的方法，包括：在自经由设置在所述第二基板处理设备的处理位置处的传感器检测到待处理基板到达所述处理位置时起第一预定时段后，生成用于使能所述第一基板处理设备向所述第二基板处理设备传送基板的基板传送使能信号；以及将所生成的基板传送使能信号发送到所述第一基板处理设备，以用于控制所述第一基板处理设备向所述第二基板处理设备传送下一待处理基板。利用该方法，可以有效地降低第一和第二基板处理设备的等待时间。
处理设备第二基板第一基板基板传送处理基板处理位置传送基板使能信号基板处理设备传感器检测装置及系统预定时段有效地使能流水线传送申请

[发明专利]用于物体检查的光照设备-CN201910026532.5在审
发明人：杨维平;程泽 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2019-01-11 - 公布日： 2019-04-16 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本公开涉及物体检查技术领域，具体地，涉及用于物体检查的光照设备。所述光照设备包括：曲面光罩，所述曲面光罩具有凹陷曲面，所述凹陷曲面被布置为朝向待检查的物体；以及多个单色可见光源，布置在所述曲面光罩的凹陷曲面上，用于照射所述待检查的物体，其中，所述多个单色可见光源的位置和所述凹陷曲面的形状能够使得所述多个单色可见光源发出的单色可见光形成在预定照射范围内的照度偏差不超过10％的照射光来照射所述待检查的物体。该光照设备能够照射待检查的物体，从而能够获得清晰的物体图像，使得可以基于该物体图像判别待检查的物体是否存在异常。
光照设备可见光源物体检查照射光罩凹陷曲面物体图像检查凹陷单色可见光照度偏差照射光清晰

[发明专利]用于清理焊球模板的方法-CN201810106565.6有效
发明人：李梦秋 -专利权人： 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司
申请日： 2018-02-02 - 公布日： 2019-03-29 - 主分类号： H01L21/56 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于清理焊球模板的方法，所述焊球模板用于在对半导体器件进行封装时植放焊球，所述焊球模板包括以一定图案分布的多个穿孔，所述方法包括：在所述焊球模板上卡有焊球的穿孔处施加附着介质；在所述附着介质上安放几个另外焊球；对载有所述另外焊球的所述焊球模板加热到高于所述焊球的熔点之上的温度；以及冷却被加热的所述焊球模板，使得焊球熔化后的材料重新塑形成更大焊球。根据本发明，焊球模板几乎不存在任何被损坏的风险，因而，可显著地降低成本和费用。
焊球模板焊球穿孔附着加热熔点熔化半导体器件上卡封装冷却施加图案