专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种含局部连接性约束的IC芯片点集配准方法-CN202110361599.1有效
  • 高会军;张元明;孙昊;刘伟华;于兴虎;杨宪强 - 宁波智能装备研究院有限公司
  • 2021-04-02 - 2022-06-17 - G06T7/33
  • 一种含局部连接性约束的IC芯片点集配准方法,属于贴片机集成电路芯片贴装技术领域,本发明为解决受点集中噪声和离群点的影响导致非刚性点集配准难度大、精度和鲁棒性低的问题。本发明方法包括以下步骤:步骤一、使用贴片机视觉检测系统对准备贴装的集成电路芯片进行全局拍照,采集得到一组二维点数据作为待配准点;步骤二、对待配准点预处理得到参考点集;步骤三、创建高斯核Gram矩阵G;步骤四、设计k连接矩阵C;步骤五、计算权重矩阵A;步骤六、初始化期望最大化算法的相关参数;步骤七、提取目标点集Y中的每个点形状上下文特征;步骤八、迭代更新模板点集直至收敛,获得最终配准的结果点集,根据最终的配准结果点集对待贴装芯片进行贴装作业。
  • 一种局部连接约束ic芯片点集配准方法
  • [发明专利]一种用于细胞分离的连续式离心机-CN201910408084.5有效
  • 佟明斯;李湛;林伟阳;高会军;杨宪强;王娇 - 哈尔滨工大国际干细胞工程研究院有限公司
  • 2019-05-15 - 2021-11-12 - B04B5/04
  • 一种用于细胞分离的连续式离心机,本发明涉及一种连续分离装置,本发明的目的是为了解决现有的离心装置进行离心操作繁琐,而且对细胞活性造成影响,离心后需要去除杂质操作繁琐的问题,它包括旋转封闭进液模块、摆动搅拌机构、转动平台、传动机构、空心主轴、驱动电机和导电滑环;空心主轴底端固定安装在导电滑环转子转轴上,空心主轴的顶端穿过转动平台与旋转封闭进液模块的底端固定,驱动电机转轴的输出端通过传动机构与空心主轴连接,摆动搅拌机构安装在转动平台上,旋转封闭进液模块的每个出口端分别通过管路与摆动搅拌机构的一个入口端密封连接,本发明属于生物细胞分离技术领域。
  • 一种用于细胞分离连续离心机
  • [发明专利]一种具有输出时滞的非线性双率电路系统鲁棒辨识方法-CN202010751921.7有效
  • 杨宪强;刘新鹏;高会军 - 哈尔滨工业大学
  • 2020-07-30 - 2021-08-13 - G06F30/20
  • 一种具有输出时滞的非线性双率电路系统鲁棒辨识方法,涉及电路系统建模及系统辨识领域。本发明是为了解决现有技术中当输出信号数据中存在时变时滞和异常值干扰时,非线性双率电路系统的鲁棒辨识问题,包括以下步骤:步骤一:基于快采样输入电压信号、参考调度电压信号、慢采样输出值,以及过程噪声和观测噪声建立非线性电路系统的输入输出模型,明确待辨识问题;步骤二:在概率框架下,建立非线性电路系统的鲁棒辨识模型;步骤三:基于变分贝叶斯框架,推导得到模型参数和隐变量的迭代估计公式;步骤四:通过迭代更新步骤三中修正的鲁棒卡尔曼滤波算法和变分分布公式,得到辨识结果。本发明适用于电路系统的鲁棒辨识。
  • 一种具有输出非线性电路系统辨识方法
  • [发明专利]一种基于局部变换模型的图像特征点误匹配剔除方法-CN201910968493.0有效
  • 张智浩;杨宪强;高会军 - 哈尔滨工业大学
  • 2019-10-12 - 2021-08-13 - G06T7/33
  • 一种基于局部变换模型的图像特征点误匹配剔除方法,本发明涉及图像特征点误匹配剔除方法。本发明的目的是为了解决基于特征点匹配的图像配准过程中,特征点出现误匹配率高,现有剔除误匹配特征点方法准确率低的问题。过程为:一、对不同视角下拍摄相同场景的两张图像检测并描述特征点;二、得到初始特征点对集合;三、对初始特征点对集合进行分类和初步筛选;四、计算特征点集中每个特征点与所有特征点的欧式距离;五、如果类别号与特征点的类别号相同,则确定点对为内点,否则进行六判断是否为误匹配点;六、若误差大于10,则确定点对为误匹配点,并将其从点对集合中剔除,剔除后得到特征点对集合。本发明用于图像特征点匹配领域。
  • 一种基于局部变换模型图像特征匹配剔除方法
  • [发明专利]量测数据随机缺失的机电定位系统鲁棒参数辨识方法-CN202010591443.8有效
  • 杨宪强;刘新鹏;高会军 - 哈尔滨工业大学
  • 2020-06-24 - 2021-06-08 - G05B13/04
  • 一种量测数据随机缺失的机电定位系统鲁棒参数辨识方法,属于工业自动化及模型参数辨识领域。本发明针对现有机电定位系统参数辨识方法中,未考虑系统中存在的异常干扰数据,造成参数辨识精度低的问题。包括:采集电机负载端的位置信号,由所述位置信号,基于中心差分法获得负载的速度和加速度;并建立定位系统的逆动力学模型;在概率框架下,建立部分量测数据随机缺失时的机电定位系统鲁棒辨识模型;基于变分贝叶斯框架,推导得到待辨识参数和偏移量的迭代更新公式,当满足迭代更新的终止条件时,获得待辨识参数和偏移量的估计值。本发明用于机电定位系统的参数辨识。
  • 数据随机缺失机电定位系统参数辨识方法
  • [发明专利]一种二次匹配对应的IC芯片亚像素精度定位方法-CN202011439593.3在审
  • 高会军;张元明;孙昊;于兴虎;杨宪强 - 宁波智能装备研究院有限公司
  • 2020-12-10 - 2021-03-23 - G06T7/73
  • 一种二次匹配对应的IC芯片亚像素精度定位方法,涉及贴片机图像处理技术领域。本发明是为了解决现有贴片机在线定位算法可靠性差、定位精度低、弱鲁棒性、计算时间长的问题。本发明采集待贴片元件的二维图像,将该二维图像中待贴片元件的所有像素点进行芯片示教,获得待贴片元件的参数、并利用该参数建立元件数据库,利用亚像素角点检测算法提取二维图像的一次匹配角点;提取一次匹配角点的距离特征向量进行距离特征匹配,提取元件数据库中模型Ⅰ型关键点的形状特征进行形状特征匹配,利用最小二乘法计算一次匹配贴装位置与一次匹配旋转角度,利用一次匹配贴装位置与一次匹配旋转角度查找Ⅱ型亚像素关键点、并进行二次匹配,完成定位。
  • 一种二次匹配对应ic芯片像素精度定位方法
  • [发明专利]一种非线性工业过程鲁棒辨识和输出估计方法-CN201911053823.X有效
  • 杨宪强;刘新鹏;高会军 - 哈尔滨工业大学
  • 2019-10-31 - 2021-03-12 - G06F17/18
  • 一种非线性工业过程鲁棒辨识和输出估计方法,涉及工业过程建模及模型参数辨识领域,针对现有技术当输出数据中存在异常值时,会导致系统辨识精度降低的问题,包括以下步骤:步骤一:选取系统局部模型,并基于拉普拉斯分布,建立多模型非线性系统的鲁棒概率模型;步骤二:根据变分贝叶斯框架,建立隐变量后验分布和待估计参数的迭代更新公式;步骤三:设定步骤二中所建立的隐变量后验分布和待估计参数迭代更新公式的终止条件,当迭代终止时,记录最终的迭代结果作为估计的最优参数,进而通过局部模型插值得到模型输出值。
  • 一种非线性工业过程辨识输出估计方法
  • [发明专利]一种基于事件驱动的卫星姿态控制方法-CN201710866586.3有效
  • 费中阳;关朝旭;杨宪强;史爽;郭捷 - 哈尔滨工业大学
  • 2017-09-22 - 2020-07-24 - G05B13/04
  • 一种基于事件驱动的卫星姿态控制方法,本发明涉及一种卫星姿态控制系统模型。本发明的目的是为了解决现有时间驱动的控制方法中不必要的数据传送,由于通讯及信息传输的资源有限,冗余的数据包传输会增大数据传输的负载压力,浪费有限的可用资源的问题。过程为:一:将卫星姿态动力学行为建立为柔性臂模型,对柔性臂模型进行理论分析,得到柔性臂模型的状态空间方程;二:基于柔性臂模型的状态空间方程设计混合事件驱动条件;三:基于混合事件驱动条件,利用Lyapunov稳定性理论,得到保证柔性臂模型无源性的条件;四:基于无源性的条件,设计柔性臂模型的控制器准则。本发明用于卫星姿态控制领域。
  • 一种基于事件驱动卫星姿态控制方法
  • [发明专利]一种基于顶点的矩形引脚元件定位方法-CN201711124825.4有效
  • 高会军;杨宪强;许超;白立飞 - 哈尔滨工业大学
  • 2017-11-14 - 2020-05-22 - G06T7/73
  • 一种基于顶点的矩形引脚元件定位方法,本发明涉及矩形引脚元件定位方法,为了解决贴片型矩形引脚元件在线定位算法鲁棒性弱,精度低,通用性差及实时性低的问题。本发明包括:一:得到模型元件信息;二:将元件分为两类;三:提取模型元件引脚的每个顶点的特征描述子;四:获取元件的真实图像并提取特征点;五:提取特征点所在的两条直线分别与X轴正方向的夹角;六:得到元件旋转角度;七:得到精确特征点位置;八:求取所有顶点所对应的精确特征点位置;九:得到实际元件引脚的顶点特征描述子;十:确定模型元件顶点和实际元件顶点对应特征点对的权重值;十一:求取芯片中心的最终位置和芯片的精确旋转角度。本发明用于芯片表面检测领域。
  • 一种基于顶点矩形引脚元件定位方法

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