专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种阵列式图像传感器激光损伤阈值估算方法-CN202110614724.5有效
  • 张检民;师宇斌;冯国斌;徐作冬;李云鹏;窦鹏程;赵军 - 西北核技术研究所
  • 2021-06-02 - 2022-09-23 - H04N17/00
  • 本发明涉及一种激光辐照效应损伤阈值分析方法,具体涉及一种阵列式图像传感器激光损伤阈值估算方法,解决激光干扰损伤效应阈值实验数据存在较大差异的问题。该方法通过获取阵列式图像传感器样品上不同程度的点损伤效应、线损伤与大面积失效激光参数,以及失效阈值,计算得出线损伤阈值、大面积失效阈值,再以点损伤阈值为基准阈值,计算出线损伤、大面积失效以及失效的相关参数,最后通过多次实验得到线损伤、大面积失效和失效的相关系数区间。根据此参数区间和未知器件或相似器件的点损伤阈值,就可得到未知器件或相似器件的线损伤、大面积失效和失效的系数区间。消除测量不确定度、效应现象随机性、样品个体差异的实验误差,提高准确度。
  • 一种阵列图像传感器激光损伤阈值估算方法
  • [发明专利]液氮制冷型红外焦平面阵列激光聚焦辐照实验装置及方法-CN202010323078.2在审
  • 徐作冬;张检民;窦鹏程;冯国斌 - 西北核技术研究院
  • 2020-04-22 - 2020-08-11 - G01J5/00
  • 本发明涉及一种激光辐照效应实验装置及方法,尤其涉及一种用于液氮制冷型红外焦平面阵列的激光聚焦辐照实验装置及方法。本发明的目的是解决现有激光聚焦辐照实验装置及方法存在难以在红外焦平面阵列表面形成光斑直径足够小、光场分布精确可控的聚焦光斑的问题,提供一种液氮制冷型红外焦平面阵列激光聚焦辐照实验装置及方法。该装置包括依次连接的光纤激光器、光纤可变衰减器和光纤分束器,激光功率计,可控聚焦辐照模块真空密封连接于杜瓦瓶上;可控聚焦辐照模块的单模光纤两端分别位于杜瓦瓶内外两侧;光束聚焦结构安装于光纤末端,与红外焦平面阵列距离为5‑15mm;光束聚焦结构焦距为5‑15mm;机械调节机构轴向调节范围为0‑25毫米。该方法利用该装置进行。
  • 液氮制冷红外平面阵列激光聚焦辐照实验装置方法
  • [发明专利]一种两端式层叠太阳电池I-V曲线快速获取方法-CN201910350408.4有效
  • 窦鹏程;师宇斌;张检民;李云鹏;徐作冬;张震;冯国斌 - 西北核技术研究所
  • 2019-04-28 - 2020-06-19 - H02S50/10
  • 本发明提供了一种两端式层叠太阳电池I‑V曲线快速获取方法,以解决其电路模型参数拟合算法中误差准确计算的难题。首先计算给定等效终端电压集合对应各子电池终端电压、电流集合,然后选取特定子电池电流集合作为电流采样点,基于插值法计算各子电池在电流采点下的插值电压集合,最后对同一电流采样点下子电池插值电压求和获得终端电压集合,作电流采样点与终端电压集合曲线即为两端式层叠电池I‑V曲线。本发明方法简单,原理可靠,计算精度高,能够实现两端式层叠电池I‑V曲线的快速获取。其结果可作为电路模型参数拟合算法中误差判断依据,从而实现基于实验I‑V曲线的两端式层叠太阳电池等效电路模型参数的准确提取。
  • 一种两端层叠太阳电池曲线快速获取方法
  • [发明专利]单PN结型器件激光损伤效应分析方法-CN201710432606.6有效
  • 师宇斌;张检民;刘永棠;徐作冬;张震;窦鹏程;林新伟;李云鹏;程德艳 - 西北核技术研究所
  • 2017-06-09 - 2019-10-18 - G01R31/265
  • 本发明提供了一种基于等效电路参数提取的单PN结型器件激光损伤效应分析方法,以解决现有分析方法测试成本过高及可能会对器件造成永久性破坏的问题。首先建立待研究单PN结型器件的等效电路模型,然后通过粒子群算法准确获取该等效电路模型中的模型参数(ISD、Rs和Rsh),分析激光损伤前后相应模型参数的变化,通过这些模型参数与单PN结型器件材料内部物理量的联系,对单PN结型器件内部损伤进行分析。本发明方法简单、原理可靠,测试成本低,且能够在不破坏单PN结型器件的前提下准确获取单PN结型器件激光辐照前后的等效电路模型中的模型参数,通过对辐照前后的模型参数进行比较,就能得到单PN结型器件损伤前后的内部掺杂浓度、载流子寿命以及缺陷变化情况。
  • pn器件激光损伤效应分析方法

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