专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]相移空白掩膜和光掩膜-CN201810513173.1有效
  • 南基守;申澈;金东建;李钟华;梁澈圭;崔珉箕 - 思而施技术株式会社
  • 2018-05-25 - 2023-09-08 - G03F1/26
  • 根据本公开的相移膜包括组成不同的多个层,其可以通过一种蚀刻剂进行蚀刻,并且形成为连续膜或多层膜,所述膜通过一次或多次层叠具有不同组成的层而具有至少两层。因此,不仅通过减小相移膜的厚度,而且还通过考虑各种变量从而使得在将相移膜图案化时,使边界部分的截面倾斜度变陡以获得更清晰的相移膜图案边界,由此确保了相移膜图案的透射率、相移量和均匀性,因此提供了这样的相移空白掩膜和光掩膜,其中光刻对象和相移膜图案的图案精度得以改善。
  • 相移空白光掩膜
  • [发明专利]空白掩模和光掩模-CN201811558340.0有效
  • 申澈;李锺华;梁澈圭;崔珉箕 - 思而施技术株式会社
  • 2018-12-19 - 2023-05-30 - G03F1/50
  • 本申请提供一种空白掩模和光掩模,所述空白掩模包含:遮光膜,设置在透明衬底上;以及硬掩模膜,设置在遮光膜上且包括钼铬(MoCr)。因此,硬掩模膜不仅具有提高的蚀刻速度,且还具有对氟(F)基干式蚀刻的足够的耐蚀刻性,以使得可减小对抗蚀剂膜的蚀刻负载且可改善硬掩模膜图案和遮光膜图案的线边缘粗糙度(LER),从而形成用于高精确度图案印刷的光掩模。
  • 空白光掩模
  • [发明专利]空白掩模和光掩模-CN202010401171.0在审
  • 申澈;李钟华;梁澈圭;崔珉箕;申昇协 - 思而施技术株式会社
  • 2020-05-13 - 2020-12-01 - G03F1/50
  • 本发明提供一种空白掩模和光掩模,所述空白掩模包含透明衬底、相移膜以及光遮蔽膜。相移膜例如具有30%到100%的透射率,且在这种情况下,光遮蔽膜具有40纳米到70纳米的厚度和30原子%到80原子%铬、10原子%到50原子%氮、0原子%到35原子%氧以及0原子%到25原子%碳的组成比。堆叠有光遮蔽膜和相移膜的结构具有2.5到3.5的光学密度。因此,当在光掩模的制造工艺中对光遮蔽膜进行蚀刻时,最小化临界尺寸偏差。
  • 空白光掩模
  • [发明专利]相移空白掩模及其制造方法-CN201310163203.8有效
  • 南基守;姜亘远;金东建;张种沅;崔珉箕 - 株式会社S&S技术
  • 2013-04-25 - 2013-10-30 - G03F1/26
  • 本发明提供一种相移空白掩模,其中相移层形成为至少两个连续层或多层膜且所述相移层中所包含的最上相移层较薄地形成以含有少量氧(O)以便增强其耐化学性和耐久性。因此,包含相对于含有酸性和碱性材料、热的去离子水或臭氧水的清洁溶液具有增强的耐化学性和耐久性的相移层的相移空白掩模可使用具有增强的耐化学性和耐久性的最上相移层而提供,所述清洁溶液用于在空白掩模的制造期间重复地执行的清洁工艺。此外,可防止当重复地执行清洁工艺时引起的相移层的折射率以及相移度的降级,这是因为最上相移层具有增强的耐化学性和耐久性。因此,可提供包含薄的相移层的相移空白掩模。
  • 相移空白及其制造方法

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