专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种中波红外探测器-CN202320178284.8有效
  • 詹健龙;尚林涛 - 浙江焜腾红外科技有限公司
  • 2023-02-10 - 2023-08-18 - H05K7/20
  • 本实用新型公开了一种中波红外探测器,包括中波红外探测器本体、转接板和衬底,所述中波红外探测器本体底端固定连接有转接板,所述转接板下端面与衬底上端面固定连接,所述衬底放置在底座上,所述底座上设有用于限定衬底位置的限位组件;底座为水平设置的矩形板状结构,底座两端下部均垂直焊接有安装板,底座内设有用于安装散热片的导热腔。中波红外探测器本体通过转接板能够将热量导出到衬底上,衬底将热量导到底座上,通过导热腔内的散热片进行散热,同时风扇朝着导热腔内吹风,从而能够加快底座内散热片的散热效率,通过底座和限位组件的配合,从而便于中波红外探测器本体的安装和拆卸,使中波红外探测器本体能够灵活使用。
  • 一种中波红外探测器
  • [实用新型]一种偏振探测光栅-CN202320178277.8有效
  • 詹健龙;尚林涛;陶晟 - 浙江焜腾红外科技有限公司
  • 2023-02-10 - 2023-08-15 - G01J1/00
  • 本实用新型公开了一种偏振探测光栅,包括衬板和位于衬板上方的台面板,台面板为顶部设有开口的开放式设计,台面板的侧壁为环形设计,台面板内侧结构分为第一探测模块和第二探测模块两部分,第一探测模块包括第一外反光面、第一中反光面和第一内反光面,其中第一外反光面与第一中反光面、第一中反光面与第一内反光面的夹角均相同,第二探测模块包括第二外反光面、第二外中反光面、第二内中反光面和第二内反光面,其中第二外反光面与第二外中反光面、第二外中反光面与第二内中反光面、第二内中反光面与第二内反光面的夹角均相同。该偏振探测光栅,适应了从不同入射角度射入的光,使得该偏振探测光栅的探测范围更大。
  • 一种偏振探测光栅
  • [实用新型]一种二类超晶格红外探测器-CN202320178280.X有效
  • 詹健龙;尚林涛;徐竟杰 - 浙江焜腾红外科技有限公司
  • 2023-02-10 - 2023-08-11 - G01J5/10
  • 本实用新型公开了一种二类超晶格红外探测器,包括基座,还包括探测头和安装机构,所述基座一端配套设置有探测头,所述基座表面安装位置设置有安装机构,所述安装机构包括卡槽、安装座、卡块、安装板、安装孔、螺纹孔、螺丝和凹槽,基座表面连接位置开设有卡槽且安装座表面一体成型有与卡槽位置对应的卡块,根据安装环境和规格要求选用待用合适规格安装板的安装座,将安装座的卡块对齐并插入至卡槽内部直至螺纹孔之间对齐,在拧入螺丝即可固定安装座位置,通过安装板内部的安装孔即可与安装体之间进行对接,使用更加灵活,无需增加外部连接件,对整体体积影响小,适用性广泛。
  • 一种二类超晶格红外探测器
  • [发明专利]红外探测芯片中的集成式偏振探测光栅结构-CN202211685532.4在审
  • 詹健龙;尚林涛;陶晟 - 浙江焜腾红外科技有限公司
  • 2022-12-27 - 2023-05-12 - G02B5/30
  • 本发明公开了红外探测芯片中的集成式偏振探测光栅结构,红外探测芯片包括有吸收层,吸收层上设有多个像元,每个所述像元上覆盖有一个线性偏振光栅单元,每个线性偏振光栅单元包括有一个主光栅块和若干副光栅块,副光栅块围绕在主光栅块的四周,每个副光栅块上均具有多条均匀平行排列的线性光栅,同一个线性偏振光栅单元中不同副光栅块具有不同角度的线性光栅,主光栅块上设有若干均匀间隔设置的环形光栅,主光栅块上的所有环形光栅同心设置。本发明的红外探测芯片中的集成式偏振探测光栅结构,提高了吸收层的有效吸收面积,提高了红外探测芯片的光学响应率和偏振灵敏度。
  • 红外探测芯片中的集成偏振光栅结构
  • [发明专利]束流比例检测方法及检测设备-CN201910797169.7有效
  • 尚林涛;邢伟荣;周朋;刘铭;王经纬 - 中国电子科技集团公司第十一研究所
  • 2019-08-27 - 2022-08-19 - G01N23/20058
  • 本发明公开了一种束流比例检测方法及检测设备。束流比例检测方法包括:检测第一束流的生长速率v1,检测第二束流的生长速率v2,计算第一束流与第二束流的有效吸附束流比例N,N=v1/v2。采用本发明,可以精确的计算出分子束外延生长过程中第一束流与第二束流实际参与键合反应所吸附结合到样品表面上的有效吸附束流比例,从而在实际试验过程中,根据需求快速且准确的确定出合成符合一定化学计量比的化合物半导体材料的束流控制实验参数,进而可以减少实验的重复性和肓目性,提高实验效率和生产效率。
  • 比例检测方法设备

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