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[发明专利]基于分组注意力残差网络的锥束X射线发光断层成像方法-CN202110532495.2有效
发明人： 周仲兴;郭司琪;高峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2021-05-17 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于分组注意力残差网络的锥束X射线发光断层成像方法，包括下列步骤:1)生成模拟数据集：根据锥束XLCT成像系统，构建相应的仿真系统，包括仿体构建及光源探测器布配方案设计；2)数据集预处理：将仿真实验光通量密度值Φ作为分组注意力残差网络的输入特征，纳米荧光粒子的密度分布ρ作为标签数据，对输入数据即仿真实验光通量密度值Φ进行归一化处理；3)基于ResNet18残差网络进行改进，搭建分组注意力残差网络；4)训练网络；5)重建图像：通过实验获取不同情况下CCD探测器的仿体实验光通量密度值，并进行归一化处理，并输入到保存好的网络模型，实现XLCT图像三维重建。
基于分组注意力网络射线发光断层成像方法

[发明专利]一种基于相移吸收二元性的频域迭代相位抽取方法-CN201810849506.8有效
发明人： 周仲兴;王令霄;张林;高峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2018-07-28 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于相移吸收二元性的频域迭代相位抽取方法，包括下列步骤：设置数字放射成像系统的曝光参数，在待成像的物平面位置放置刀口器具，采集获得刀口图像，从图像中获取不同位置的刀口截面曲线，而后将刀口截面曲线进行平均，再对平均曲线求导数，获得对应的表征系统特性的线扩散函数，将该线扩散函数在直角坐标系中旋转一周，计算得到二维点扩散函数，而后对其求傅里叶变换得到放置成像物体，保持成像参数不变，对物体成像，获得相衬成像结果通过相位抽取解析方法求解出吸收项作为初始值，迭代计算得到相衬成像吸收项图像的傅里叶变换求出表征物体内部结构的相位信息图像。
一种基于相移吸收二元频域迭代相位抽取方法

[发明专利]基于多材质物体相位提取的缺陷检测方法及检测装置-CN201811502369.7有效
发明人： 周仲兴;徐加明;李水能;陈亮 -专利权人：立讯精密工业（昆山）有限公司
申请日： 2018-12-07 - 公布日： 2023-02-07 - 主分类号： G01N23/041 文献下载
摘要：本发明提供一种基于多材质物体相位提取的缺陷检测方法及检测装置，包括设置同轴相衬成像参数；设置放射成像系统的曝光参数，获得所述放射成像系统的系统传递函数MTF(u，v)及其曲线；放置待成像物体，并在所述成像参数、所述曝光参数条件下对所述待成像物体成像，获得成像结果Id(x，y)；对所述成像结果Id(x，y)进行相位抽取并计算所述待成像物体不同位置处的投影厚度，根据所述投影厚度确定所述待成像物体结构的相位信息；根据所述相位信息，对所述待成像物体进行缺陷检测。
基于材质物体相位提取缺陷检测方法装置

[发明专利]用于X射线光动力治疗的影像重建方法-CN201810849504.9有效
发明人： 周仲兴;高峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2018-07-28 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G06T17/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于X射线光动力治疗的影像重建方法，包括：①设置数字放射成像系统的曝光参数，并校准成像光路，使X光源、待成像物体、光栅和CMOS平板探测器在同一直线上。②先对二维吸收光栅成像，获取仅包含光强度梯度信息的图像；③获得闪烁纳米粒子‑光敏剂复合体，而后将其注入待测组织体；将待测组织体放入成像腔，从多个投影角度对其进行照射获取包含光强度梯度及组织体相位信息的图像。④根据探测器接收到的光栅/组织体图像中各像素位置相对于原先的光栅投影图像发生了位置平移的原理求解组织体相位信息。⑤得到组织体三维结构信息。⑥XLCT正向模型构建。⑦获得闪烁纳米粒子‑光敏剂复合体的空间密度分布。
用于射线动力治疗影像重建方法

[发明专利]基于LeNet网络的三维锥束X射线发光断层成像方法-CN202010802455.0有效
发明人： 周仲兴;孙东榆;李银娇;高峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2020-08-11 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G06T17/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于LeNet网络的锥束X射线发光断层成像的方法，包括下列步骤：建立锥束X射线发光断层成像系统并制作仿体，通过计算机仿真的方法模拟实际实验获取训练数据集；训练LeNet网络：对分类网络LeNet进行修改，形成一个用于回归模型的网络，然后利用所得训练数据集，对其进行训练；图像重建：通过实验获取不同情况下光纤探测器的探测值矩阵，并且进行归一化处理之后输入到保存好的网络模型，进行图像重建。
基于 lenet 网络三维射线发光断层成像方法

[发明专利]基于宽光束小步长扫描方式的X射线发光断层成像方法-CN201811214285.3有效
发明人： 周仲兴;张月明;冯博;高峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2018-10-18 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于宽光束小步长扫描方式的X射线发光断层成像方法，包括下列步骤：①数字X射线成像系统和XLCT成像参数设置。③将注入纳米荧光颗粒的待测物体放到成像腔。④X射线束的设置，实现宽光束小步长的扫描激发方式。⑤对待测物体进行扫描，而后通过光纤探测器接收近红外光子，用光电倍增管记录光子数量。⑥正向模型构建。⑦逆向模型构建。
基于光束步长扫描方式射线发光断层成像方法

[发明专利]一种基于加权调制的多光束X射线激发发光断层成像方法-CN201811353134.6有效
发明人： 周仲兴;张月明;冯博;高峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2018-11-14 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： A61B6/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于加权调制的多光束X射线激发发光断层成像方法，包括下列步骤：XLCT成像参数设置；X射线束的设置；设置数字放射成像系统的曝光参数，对待测物体从不同角度进行扫描，用光电倍增管记录光子数量，即测量量，最终得到总的测量量矩阵；正向模型构建；设η为待重建的纳米发光粒子密度分布信息，建立逆向图像重建模型，并采用快速梯度投影算法求解，求出表征物体内部结构的功能信息图像。
一种基于加权调制光束射线激发发光断层成像方法

[发明专利]一种面向非理想同轴相衬成像的多材料相位抽取方法-CN201910597891.6有效
发明人： 周仲兴;王令霄;张舒南;郑涵铭;程奕昕;高峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2021-10-12 - 主分类号： G01N23/041 文献下载
摘要：本发明涉及一种面向非理想成像系统的多材料相位抽取方法，包括下列步骤：X射线同轴相衬成像参数设置；获得对应的系统点扩散函数；骨组织仿体构建；将骨组织仿体放置于物体平面位置，对其成像；分拨额获取材料“2”“3”“4”小圆柱体的投影厚度；获取骨组织仿体的外部包裹材料“1”的投影厚度；获得骨组织仿体整体的相位信息图像
一种面向理想同轴成像材料相位抽取方法

[发明专利]基于U-net网络的窄束X射线激发发光断层成像方法-CN202010784098.X在审
发明人： 周仲兴;李银娇;孙东榆;高峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2020-08-06 - 公布日： 2020-11-17 - 主分类号： G06T17/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于U‑net网络的窄束X射线激发发光断层成像方法，包括下列步骤:生成模拟数据集；训练U‑net网络：对U‑net网络进行修改，保留原网络的上采样部分，下采样部分以及跳跃连接层，在U‑net网络基础上连接一个全连接层用来输出剖分后仿体各个节点处的荧光纳米粒子密度，再使用平方和损失函数计算纳米荧光粒子的损失值，利用所得到的模拟数据集进行网络模型的训练，学习测量信号中的有效信息。调整网络并测试网络模型。
基于 net 网络射线激发发光断层成像方法

[发明专利]用于近红外脑功能成像仪的强度自动调节光源系统及方法-CN201711382497.8有效
发明人：高峰;丁雪梅;贺捷;王兵元;刘东远;李娇;周仲兴;赵会娟 -专利权人：天津大学
申请日： 2017-12-19 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于近红外脑功能成像仪的光源强度自动调节方法，首先，调节移位寄存器输出使能信号有效；上电并初始化：FPGA将阻值最高调节信号按位传输到串入并出移位寄存器上，移位寄存器的输出使能有效时，阻值最高调节信号并行发送到数字电位器，将12路数字电位器的阻值调至最高，使得激光二极管光功率最小；设定光子计数范围，并发送到FPGA的寄存器；控制点亮一个光源；对探点的光强进行探测并计数；根据该计数是否在光子计数范围进行相应的调节。本发明可以针对不同个体光学参数的差异性，自动调节光源强度可保证系统信噪比一致，提高近红外光谱脑功能成像系统的光源强度自适应性能，提高系统的性价比，为推进脑功能研究奠定基础。
用于红外功能成像强度自动调节光源系统方法

[发明专利]基于小波域相位提取的缺陷检测方法及检测装置-CN201811099993.7在审
发明人： 周仲兴;徐加明;李水能 -专利权人：立讯精密工业（昆山）有限公司
申请日： 2018-09-20 - 公布日： 2019-08-27 - 主分类号： G01N23/041 文献下载
摘要：本发明提供一种基于小波域相位提取的缺陷检测方法及检测装置。检测方法包括：(1)设置同轴相衬成像参数，所述成像参数包括光源到待成像物体的距离L1、待成像物体到探测器的距离L2；(2)设置放射成像系统的曝光参数，获得所述放射成像系统的系统点扩散函数h(x，y)及其曲线；(3)放置待成像物体，并在所述成像参数条件下对所述待成像物体成像，获得成像结果I_N(x，y)；(4)根据所述成像结果I_N(x，y)对归一化相衬图像g(I)进行小波变换，获得所述归一化相衬图像g(I)的相位抽取结果；(5)根据所述相位抽取结果，计算得到所述待成像物体的相位信息图像。
待成像物体放射成像系统成像参数成像结果检测装置缺陷检测相位提取归一化小波域图像抽取点扩散函数曝光参数相衬成像相位信息小波变换探测器同轴成像光源检测

[发明专利]基于锁相光子计数技术的并行激励扩散光学层析成像装置-CN201910450243.8在审
发明人：高峰;何向东;谢锦斌;张丽敏;周仲兴;李娇 -专利权人：天津大学
申请日： 2019-05-27 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：一种基于锁相光子计数技术的并行激励扩散光学层析成像装置和方法。其中该装置包括可调制光源单元，用于发出恒功率调幅激光；源‑探布配阵列单元，用于将可调制光源单元发射的调幅激光传导至待测组织表面并将待测组织体表面溢出的光信号传导至探测单元；探测单元，用于接收待测组织表面的反射光，并将光信号等比例转化成电脉冲信号；控制与数据处理单元，用于对接收的电脉冲信号计数解调，光学参数的空间分布图像重建，以及产生光源调制信号和源‑探布配阵列单元测量通道的选通；其中，可调制光源单元和探测单元均采用源探光纤二合一的同轴光纤结构，依靠控制与数据处理单元指令及开关的选择实现源‑探布配阵列单元中源探光纤的分时复用。
可调制光源探测单元阵列单元布配扩散光学层析成像数据处理单元调幅计数技术组织表面光子并行光纤成电脉冲信号空间分布图像电脉冲信号测量通道分时复用光学参数光源调制激光传导同轴光纤信号传导二合一反射光恒功率组织体解调选通溢出激光指令发射重建转化

[发明专利]一种稀疏投影下的锥束XCT成像质量评估方法-CN201611031469.7有效
发明人： 周仲兴;高峰;赵会娟;张力新;郝挺 -专利权人：天津大学
申请日： 2016-11-18 - 公布日： 2019-07-19 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明公开一种稀疏投影下的锥束XCT成像质量评估方法，该方法在得到重建出仿体的三维图像后，进行成像系统质量评估，包括：选取多个三维重建结果切片，沿z轴方向叠加平均三维重建结果切片得到二维图像，并得到极坐标系下图像；进行阈值分割，识别出目标体区域，然后通过质心法确定目标体区域的中心。设定过采样像素大小，将极坐标系下图像中各个同心圆环范围内的像素点进行像素值平均，而后按照离开圆心的距离排序，由此得到过采样边缘扩散函数曲线ESF。求调制传递函数；计算锥束XCT成像系统的二维噪声功率谱。得到一维噪声功率谱，计算噪声等效量子数NEQ。
一种稀疏投影 xct 成像质量评估方法

[发明专利]一种X射线相衬成像的相位抽取方法-CN201710543821.3有效
发明人： 周仲兴;孙啸然;郭柏宽;高峰;赵会娟 -专利权人：天津大学
申请日： 2017-07-05 - 公布日： 2019-05-21 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种X射线相衬成像的相位抽取方法，包括：设置X射线类同轴相衬成像参数,设置数字放射成像系统的曝光参数，在待成像的物平面位置放置成像物体；对该物体成像，获得成像结果，并获得无物体时成像；构建对应的有限元剖分空间；将相衬成像的非线性模型转换为有限元模型；对有限元模型采用代数重建法迭代求解，再获得表征物体内部结构的相位信息。
相衬成像元模型成像抽取放射成像系统非线性模型物平面位置表征物体成像结果成像物体代数重建曝光参数物体成像相位信息求解迭代构建转换

[发明专利]一种基于相位信息的连接器缺陷检测方法-CN201610961476.0有效
发明人： 周仲兴;徐加明;李水能;陈亮 -专利权人：立讯精密工业（昆山）有限公司
申请日： 2016-11-04 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于相位信息的连接器缺陷检测方法，采用了一种新的X射线成像模态，并充分考虑了实际成像系统的恶化效应，满足当初工程技术条件的可行性和先进性，本发明可以进一步应用于其他工业零件中微小缺陷的在线检测。
一种基于相位信息连接器缺陷检测方法

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