专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]适用50-150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置-CN201910788369.6有效
  • 章俞之;马佳玉;吴岭南;宋力昕 - 中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 2019-08-26 - 2022-07-12 - G01N21/3563
  • 本发明提供一种适用50‑150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置,该装置包括:傅里叶变换红外光谱测量系统、机械调制解调装置、辐射收集系统、真空低温信号辐射系统。傅里叶变换红外光谱测量系统,包括傅里叶变换红外光谱仪、计算机和连接装置;所述的机械调制解调系统,包括用以机械调制的斩波器及用以解调制的锁相放大器;斩波器的参考信号输出端与锁相放大器的参考信号输入端相连;锁相放大器的信号输入端与辐射热测量计的信号输出端相连,其输出端与电路控制板的输入端相连。所述的辐射收集系统,包括用于收集低温辐射信号的抛物面金镜和用于改变低温辐射信号传播方向的平面金镜。所述的真空低温信号辐射系统,包括氦气闭循环制冷机、样品台。
  • 适用50150低温材料光谱发射测量方法装置
  • [发明专利]一种极低温度下材料半球发射率测试装置与方法-CN202010645849.X在审
  • 章俞之;吴岭南;马佳玉;宋力昕 - 中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 2020-07-07 - 2022-01-11 - G01N25/20
  • 本发明提供一种极低温度下材料半球发射率测试装置与方法,能测试深空探测、航天领域中的半球发射率。该装置包括热平衡绝热腔、真空制冷系统、样品稳态控制系统和数据采集系统;热平衡绝热腔包括腔体、回温加热器和多个腔体温度传感器,腔体包括真空外腔和绝热内腔,样品容纳于内腔中;真空制冷系统包括与绝热内腔相连通的低温制冷部分和与真空外腔和绝热内腔相连通的无油抽真空部分;样品稳态控制系统包括样品加热器以及样品温度传感器;数据采集系统包括与腔体温度传感器和回温加热器相连的温度控制器、与腔体温度传感器和样品温度传感器相连的温度监控器、与样品加热器相连的电流源表、与样品加热器相连的电压表以及与上述器件相连的计算机。
  • 一种温度材料半球发射测试装置方法

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