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[实用新型]一种检测装置及检测设备-CN202021849561.6有效
发明人：陈鲁;方一;李青格乐 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2020-08-31 - 公布日： 2021-02-19 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本申请提供一种检测装置，包括光源装置，其用于向待测区及其外围区域发射检测光束，检测光束沿垂直于待测物的方向入射至待测区及其外围区域，检测光束穿过外围区域形成复检光束；反射元件，其具有反射面，反射面平行于待测物，反射面用于使至少部分复检光束反射至外围区域，复检光束穿过外围区域形成第一信号光；以及探测装置，其用于接收信号光，信号光包括沿垂直于待测物的方向自外围区域出射的第一信号光；通过以上设置，可以使得光源装置出射的检测光束可以经待测物反射、折射或散射后形成信号光，被探测装置所收集，形成清晰的轮廓图，从而提高检测精度。
一种检测装置设备

[实用新型]一种设备及吸附装置-CN202021362301.6有效
发明人：邓旺财;李青格乐;陈鲁 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2020-07-10 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： H01L21/683 文献下载
摘要：本实用新型公开一种设备及吸附装置，其中，该吸附装置包括吸盘部和基盘部，所述吸附装置设有真空腔，所述吸盘部设有吸附面，所述吸附面设有与各所述真空腔对应连通的吸附孔，用于吸附待吸附物，所述吸盘部靠近所述吸附面的一面设有至少一个开口，所述开口被配置为容纳机械手，所述机械手用于将所述待吸附物放置于所述吸附面或自所述吸附面取走所述待吸附物；所述吸附装置还包括举升组件，至少所述吸盘部设有贯通孔，所述举升组件通过所述贯通孔驱使所述待吸附物进行升降。本实用新型实施例所提供吸附装置可以方便待吸附物进行取放，能够容易地实现待吸附物在吸附面的放置或者取走。
一种设备吸附装置

[发明专利]一种三维重构系统及三维重构方法-CN201810045501.X有效
发明人：陈鲁;李青格乐;张嵩;吕肃;韩子轲 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2018-01-17 - 公布日： 2020-11-17 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明适用于三维成像技术领域，提供了一种三维重构系统和方法，该系统包括载物装置，其包括可转动的旋转架及设置于旋转架上的载物台，旋转架具有转轴；数据采集装置与载物台间隔设置，用于在旋转架转动到相应角度时采集载物台上的物体的反射光数据，获得物体在对应角度时的单视角数据；数据处理装置，与数据采集装置连接，用于根据单视角数据和重构算法进行三维重构。该系统采用物体转动而探测光路不转动的方式进行测量，可避免探测光路转动而造成的检测效率和精度低的问题，且基于旋转架自身具有较高的定位精度可保证较高的测量精度，不需频繁校正光路，提高三维重构速度；旋转架的转动不会导致系统空间大小变化，有利于重构系统的小型化。
一种三维系统方法

[发明专利]点云处理方法及其系统、检测方法及其系统、可读介质-CN201910234858.7在审
发明人：陈鲁;吕肃;李青格乐;张嵩 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2019-03-26 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种点云处理方法及其系统、检测方法及系统、可读介质，其中，所述点云处理方法包括：提供初始点云，所述初始点云包括相互分离的主点云和附加点云；所述主点云和附加点云均包括初始数据点；提供投影方向；沿投影方向对所述初始点云进行投影处理，形成待处理图像，所述初始数据点形成待处理图像中的数据点；对所述待处理图像进行分类处理，获取与所述附加点云对应的附加图像；从所述初始点云中去除所述附加图像中数据点对应的初始数据点，形成目标点云。所述点云处理方法能够加快处理速度，从而增加检测速度。
处理方法及其系统检测可读介质

[发明专利]检测装置及检测方法-CN202010625814.X在审
发明人：陈鲁;方一;李青格乐;张军;张嵩 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请公开了一种检测装置及检测方法，首先对待测物的待测区域进行定位，以获取所述待测区域在二维平面内的位置信息，然后根据所述位置信息确定第一检测轨迹，以及根据所述第一检测轨迹获取所述待测区域的三维位置信息，所述三维位置信息包括至少一个点的三维坐标，实现了精准定位待测区域，进而提升后续对待测区域的检测精度。
检测装置方法

[发明专利]数据点模型处理方法及系统、检测方法及系统、可读介质-CN201910234448.2在审
发明人：陈鲁;吕肃;李青格乐;张嵩 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2019-03-26 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G06T3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种数据点模型处理方法及其系统、检测方法及系统、可读介质，其中，所述数据点模型处理方法包括：将待处理模型划分为若干个网格；对各个网格进行标记处理，将所述待处理模型标记为二值图像形成网格图像；对所述网格图像进行连通域判断，当网格图像包括分离的主网格图像和附加网格图像时，获取所述附加网格图像；从所述初始模型中去除所述附加网格图像中数据点对应的初始数据点。所述数据点模型处理方法能够加快处理速度，从而增加检测速度。
据点模型处理方法系统检测可读介质

[实用新型]检测设备-CN201921890031.3有效
发明人：方一;李青格乐;邓旺财;陈鲁 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2019-11-04 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型提出一种检测设备，所述检测设备包括：承载台，用于承载待测物，所述待测物包括主平面及与所述主平面连接的辅面，所述辅面至少具有一点的法线与所述主平面的法线垂直或具有锐角夹角，所述承载台包括承载面，所述承载面与所述待测物的主平面平行；检测装置，所述检测装置包括探头，所述探头的光轴与所述承载面之间具有锐角夹角，所述探头用于对所述待测物辅面的待测区进行检测以获取所述待测区的三维坐标信息。该检测设备能够在不旋转待测物或探头的情况下，对待测物辅面的待测区进行检测，节省了检测时间，提升了检测效率。
检测设备

[发明专利]检测设备及检测方法-CN201910056826.2在审
发明人：陈鲁;李青格乐;方一;陈晓静 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2019-01-18 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：本发明提供一种检测设备及检测方法，其中，检测设备包括：第一频闪光源，被配置为向承载面的待测物发射第一探测光，所述第一探测光经待测物形成第一信号光；第二频闪光源，被配置为向承载面的待测物发射第二探测光，所述第二探测光经待测物形成第二信号光，所述第一频闪光源和第二频闪光源被配置为多次交替地向所述待测物发射第一探测光和第二探测光；第一探测装置，被配置为多次交替地探测所述第一信号光和第二信号光，获取第一探测信息。所述检测设备结构简单，成本较低，且能够减少误检。
检测设备方法

[发明专利]转换关系的获取方法、检测设备及检测方法-CN201910038257.9在审
发明人：陈鲁;李青格乐;吕肃;刘欢敏;张嵩 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2019-01-14 - 公布日： 2020-07-21 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种转换关系的获取方法、检测设备及检测方法，其中，所述转换关系的获取方法包括：提供初始检测设备，包括：第一坐标系和第二坐标系；提供标准物，所述标准物包括至少一个特征点，所述特征点为所述第一检测设备和第二检测设备可识别的点；通过所述第一检测装置获取所述至少一个特征点在第一坐标系中的第一特征点坐标；通过所述第二检测装置获取所述至少一个特征点在第二坐标系中的第二特征点坐标；通过所述第一特征点坐标和第二特征点坐标，获取所述第一坐标系和第二坐标系的转换关系。所述方法能够获取第一坐标系和第二坐标系的转换关系，从而能够具有所述转换关系的检索设备的检测速度。
转换关系获取方法检测设备

[发明专利]检测装置及其检测方法-CN201811521276.9在审
发明人：陈鲁;李青格乐;陈晓静;方一 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2018-12-13 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本公开涉及一种检测装置及其检测方法。检测装置包括：第一光源组件(30)，用于向具有至少一个弯曲检测表面的待检测物体(10)提供探测光，所述弯曲检测表面在所述第一弯曲方向上至少有两个位置的法线不平行；和探测器(20)，设置在所述待检测物体(10)的一侧，用于采集所述探测光在所述待检测物体(10)沿所述第一弯曲方向连续的表面的反射光；其中，所述探测器(20)能够在所述弯曲检测表面上位于所述探测器(20)沿所述第一弯曲方向连续覆盖的探测区的部分没有缺陷时，采集所述探测光在所述探测区内任一位置的部分或全部反射光。本公开实施例能够使用较少的探测镜头来实现弯曲表面检测。
检测装置及其方法

[发明专利]匹配方法、三维形貌检测方法及其系统、非暂时性计算机可读介质-CN201811010582.6在审
发明人：陈鲁;吕肃;张嵩;李青格乐 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2018-08-31 - 公布日： 2020-03-10 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明涉及一种匹配方法和在匹配方法的基础上进行的三维形貌检测方法。本发明还涉及实现匹配方法和三维形貌检测方法的三维形貌检测系统和非暂时性计算机可读介质。匹配方法包括以下步骤：提供参照物体，参照物体具有特征点，参照物体包括第一待测区和第二待测区；通过在第一测量位置对第一待测区进行第一测量处理，获取至少一个特征点的第一空间位置信息；通过在第二测量位置对第二待测区进行第二测量处理，获取至少一个特征点的第二空间位置信息；通过第一空间位置信息和第二空间位置信息获取第一测量位置和第二测量位置之间的刚性坐标转换关系。其中，参照物体沿不经过特征点的任何直线具有非旋转对称性。
匹配方法三维形貌检测及其系统暂时性计算机可读介质

[实用新型]一种检测装置-CN201920800058.2有效
发明人：陈鲁;方一;李青格乐 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2019-05-29 - 公布日： 2020-02-21 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种检测装置，包括光线发生设备和成像设备。其中，光线发生设备包括条纹图案，该设备用于发射光束并通过所述光束将所述条纹图案投射至所述待测物，条纹图案包括多个平行排列的分离的直条；成像设备用于获得待测物透射或反射的所述光束形成检测图像，检测图像包括多个条纹；检测图像用于根据条纹获取所述待测物的缺陷信息。如果待测物表面加工理想，不存在缺陷，成像设备得到的检测图像应该呈现出与条纹图案相似的笔直条纹。但是，如果待测物表面存在缺陷，例如桔纹、模刮或压痕等，检测图像中的条纹则会发生扭曲。利用该检测装置能够实现对待测物表面缺陷的自动检测，相比于现有的人工检测方式，检测效率显著提高。
一种检测装置

[发明专利]一种检测设备及检测方法-CN201910843274.X在审
发明人：陈鲁;江博闻;李青格乐;吕肃;蒋路翔 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2019-09-06 - 公布日： 2019-12-06 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本申请公开了一种检测设备及检测方法，采用包括不同轴的镜头以及探测器的探测装置来获得待测物的检测图像，镜头的主平面和探测器的探测面相交于一条交线。在检测过程中，可以利用检测设备的光源向待测物投射形成条纹图案的光束，当待测物位于探测装置能够对其清晰成像的区域时，探测装置通过探测待测物反射的光束，即可形成条纹图案清晰的多个检测图像。这些检测图像的条纹相位不同，能够用于确定待测物的形貌。本申请提供的检测设备中探测装置可以在很大的范围内清晰成像，相比于现有技术，应用该检测设备或检测方法进行待测物的形貌检测或缺陷检测时无需缩小光圈就可保证检测图像的质量，从而保证对待测物的检测精度和检测速度。
待测物检测图像探测装置检测设备检测清晰成像条纹图案探测器光圈形貌缺陷检测条纹相位形貌检测镜头探测面种检测主平面交线投射反射光源申请相交探测保证清晰应用

[实用新型]检测设备-CN201920102247.2有效
发明人： 李青格乐;陈晓静;方一;陈鲁 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2019-01-18 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01N21/896 文献下载
摘要：本实用新型提供一种检测设备及检测方法，其中，检测设备包括：移动装置，所述移动装置包括多个传送装置，多个传送装置用于使待测物沿相同的传送方向移动；相邻传送装置之间具有空隙，所述传送装置表面具有用于放置待测物的承载面，检测时待测物位于所述承载面且横跨所述空隙；发光装置，用于向所述空隙发射探测光，所述探测光经待测物形成第一信号光和第二信号光；第一探测装置，用于探测所述第一信号光获取第一探测信息；第二探测装置，用于探测穿过所述空隙的第二信号光获取第二探测信息，所述第一探测装置和第二探测装置分别位于所述承载面两侧。所述检测设备结构简单，成本较低，且能够减少误检。
探测装置待测物传送装置检测设备承载面第二信号探测信息移动装置探测光探测传送装置表面本实用新型传送方向发光装置种检测检测误检横跨穿过发射移动

[实用新型]检测装置-CN201822086565.2有效
发明人： 李青格乐;陈晓静;方一;陈鲁 -专利权人：深圳中科飞测科技有限公司
申请日： 2018-12-13 - 公布日： 2019-08-27 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本公开涉及一种检测装置。检测装置包括：暗场线光源(30)，设置在具有至少一个弯曲检测表面的待检测物体(10)的一侧，用于向所述弯曲检测表面提供暗场探测光，所述弯曲检测表面在第一弯曲方向上至少有两个位置的法线不平行；和线探测器(20)，设置在所述待检测物体(10)的靠近所述暗场线光源(30)的一侧，用于采集所述暗场探测光在所述待检测物体(10)表面的漫反射光或散射光；所述暗场线光源的出光面与所述线探测器(20)的镜头的光轴面平行或重合，且所述暗场线光源的出光面与所述弯曲检测表面的法线不平行。本公开实施例能够有效地实现弯曲表面的暗场检测。
暗场弯曲检测线光源待检测物体法线检测装置线探测器不平行出光面探测光有效地实现暗场检测漫反射光弯曲表面弯曲方向光轴面散射光种检测重合平行采集镜头