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[发明专利]结合SERS基底用于CTCs捕获和分析的微流控芯片的制作方法-CN202310422095.5在审
发明人：高荣科;吴春雨;于连栋;夏豪杰 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2023-04-19 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B81C1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种结合SERS基底用于CTCs捕获和分析的微流控芯片的制作方法，包括以下步骤：步骤S1，二元微纳阵列基底阳模板的制备；步骤S2，二元微纳阵列基底的制备；步骤S3，微加工制备二元微纳阵列基底；步骤S4，电子束蒸镀金膜；步骤S5，基底上的适体孵育；步骤S6，微流控芯片的制备。步骤S7，微流控芯片与基底的封接，步骤S8，基底表征，本发明的高比表面积的二元微纳阵列基底，具备良好的SERS特性，其微纳表面形貌有利于CTCs进行着床，通过修饰特异性适体，基底的物理特性与免疫亲和相结合，使得基底有着较高的捕获效率。
结合 sers 基底用于 ctcs 捕获分析微流控芯片制作方法

[发明专利]基于点云表面形状特征描述符配准算法的零件预定位方法-CN202310378091.1在审
发明人： 于连栋;林波;陈晨;陈浩涵;贾华坤;高荣科;陆洋;陈孝喆;王飞飞;金浩 -专利权人：中国石油大学（华东）
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06T7/32 文献下载
摘要：本发明公开一种基于点云表面形状特征描述符配准算法的待测零件预定位方法，包括以下步骤：步骤S1，将待测零件放在工作台上；步骤S2，手动操作机械臂，通过机械臂搭载的线激光扫描仪扫描待测零件，获得局部点云；步骤S3，基于零件CAD模型生成待测零件全局点云；步骤S4，将待测零件全局点云向扫描零件局部点云配准，得到两者变换矩阵T1；步骤S5，手动操作机械臂，带动线激光扫描仪扫描机械臂底座，建立机器人基坐标系；步骤S6，求解C‑Track坐标系与机器人基坐标系的转换关系，得到两者变换矩阵T2；步骤S7，基于T1、T2进行坐标变换，将零件坐标系变换到机械臂基坐标系下，进而实现待测零件预定位。
基于表面形状特征描述符配准算法零件预定方法

[发明专利]一种选择机器人最优标定构型集合的方法-CN202311039370.1在审
发明人： 于连栋;张继彦;贾华坤;高荣科;陆洋;陈孝喆;王飞飞;金浩 -专利权人：中国石油大学（华东）
申请日： 2023-08-17 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： B25J9/16 文献下载
摘要：本发明公开一种选择机器人最优标定构型集合的方法，包括以下步骤：步骤1、建立机器人位置误差模型；步骤2、数据采集与冗余参数剔除；步骤3、建立综合评价指标；步骤4、通过获得可观测指标，确定最优标定构型集合的大小；步骤5、通过二进制模拟退火算法选择最优标定构型集合。本发明提出的综合观测指标很好的满足了两方面的需求，既能够评价所选构型集合的可观测性的综合能力，又能够使所选构型集合对应末端位置尽量均匀分布，即满足了构型的全局性。
一种选择机器人最优标定构型集合方法

[发明专利]一种基于SERS的微流控芯片及制备方法及应用-CN202310427582.0在审
发明人：高荣科;卓莹;于连栋;夏豪杰 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2023-04-20 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： B01L3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于SERS的微流控芯片及其制备方法以及应用。该微流控芯片包括由PDMS制成的芯片本体和载玻片，芯片的主要结构包括多个反应试剂的入口、团块杂质阻隔区、循环肿瘤细胞捕获检测区、人字形通道的溶液混合区域、磁铁圆片的定位区、免疫磁性“三明治”结构富集检测区和废液出口，进液口和出液口上下贯穿芯片本体，团块杂质阻隔区包括长方体微柱阵列，以上的多个功能区在芯片本体底部，它们以及进液口和出液口经由通道进行连接，并与载玻片进行不可逆封接。本发明操作简单、制作成本低、检测时间短、灵敏度高，对于癌症标志物的多重检测具有重要意义。
一种基于 sers 微流控芯片制备方法应用

[发明专利]基于2D衍射光栅的旋转轴系五自由度误差同步测量装置-CN202310789142.X在审
发明人：赵会宁;侯晓莹;张有虎;王杰;于连栋;夏豪杰 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明专利公开了一种基于2D衍射光栅的旋转轴系五自由度误差同步测量装置，用来测量旋转轴系工作时的五自由度误差，实现旋转轴系工作时倾斜误差、径向误差和轴向误差的测量。本发明所用棱镜和其他光学结构装置成本较低。本发明相比于传统测量仪器设备而言，集成度高，可实现对旋转轴系五自由度误差的一次性测量。在装置中设计自准直单元，通过组合反射镜中的平面反射镜，可以测出旋转轴系工作时的俯仰角误差和偏摆角误差；通过组合反射镜中的内锥形反射镜，可以测出旋转轴系工作时X轴方向上的误差、Y轴方向上的误差和Z轴方向上的误差。最终实现对旋转轴系倾斜误差、径向误差和轴向误差的测量。
基于衍射光栅旋转轴自由度误差同步测量装置

[发明专利]一种基于改进Phong模型的高反光零件测量方法及系统-CN202111499956.7有效
发明人： 于连栋;陈晨;贾华坤;陈浩涵;李京效;陆洋 -专利权人：中国石油大学(华东）
申请日： 2021-12-09 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明公开一种基于改进Phong模型的高反光零件测量方法，以及公开了一种采用基于改进Phong模型的高反光零件测量方法的测量系统。本发明通过基于将待测曲面CAD模型映射到二维参数域内，再重新映射到待测曲面CAD模型，得到扫描路径点，进而根据改进Phong反射模型进行镜面反射方向的求解，根据镜面反射方向调整工业相机的位姿，从而可以有效避免测量过程中待测零件表面的高反光现象，提高激光条纹提取精度，有效提高高反光零件测量数据的精度。
一种基于改进 phong 模型反光零件测量方法系统

[发明专利]旋转轴系五自由度误差运动高精度测量装置及测量方法-CN202310528611.2在审
发明人：赵会宁;王杰;侯晓莹;闻杰;于连栋;夏豪杰 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2023-05-11 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开一种旋转轴系五自由度误差运动高精度测量装置及测量方法，包括旋转轴系轴向误差运动、俯仰误差运动、径向误差运动测量装置。本发明通过斜射式激光三角法和刀片衍射现象实现测量旋转轴系在轴向方向的误差运动；通过自准直原理和小孔衍射现象实现测量旋转轴系在俯仰方向的误差运动；通过曲面边缘衍射现象实现测量径向方向的误差运动，最终实现旋转轴系的五自由度误差运动高精度测量。
旋转轴自由度误差运动高精度测量装置测量方法

[发明专利]三角柱阵列SERS增强基底的微流控芯片-CN202310422153.4在审
发明人：高荣科;周又强;于连栋;夏豪杰 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2023-04-19 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： B01L3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种三角柱阵列SERS增强基底的微流控芯片，制成包括以下步骤：步骤S1，PDMS印章的制备；步骤S3，具有周期性的三角柱阵列的制备；步骤S4，RIE刻蚀；步骤S5，电子束蒸镀金膜；步骤S6，基底上的适体孵育；步骤S7，微流控芯片的制备。本发明的具有周期性排列的三角柱阵列基底，具有较好的SERS信号，并且表面的纳米粗糙度不仅能够方便CTC进行附着，并且能够增加其比表面积，提供更多的适体修饰位点。在修饰完适体后通过基底的物理特性和适体的亲和力结合，有着较高的CTCs捕获效率。有效去除大量的红细胞和少量的白细胞，减少了血细胞非特异性吸附的干扰，提升了捕获效率，提供了同时具备捕获和检测CTCs的平台。
角柱阵列 sers 增强基底微流控芯片

[发明专利]嵌入SU-8胶基底的用于CTCs捕获和分析的微流控芯片-CN202310422130.3在审
发明人：高荣科;杨懂懂;于连栋;夏豪杰 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2023-04-19 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01N33/569 文献下载
摘要：本发明公开了一种嵌入SU‑8胶基底的用于CTCs捕获和分析的微流控芯片，包括以下步骤：倒金字塔凹坑阵列硅母膜的制备；二次倒模加压印制备金字塔微锥阵列SU‑8胶基底；微纳加工制备SU‑8胶基底表面粗糙纳米形貌；电子束蒸镀金膜；SU‑8胶基底上修饰适体；微流控芯片的制备；嵌入基底式芯片的封接；SU‑8胶基底的表征；本发明的金字塔微锥阵列SU‑8胶基底，其具备微纳异质结构的微锥阵列拥有良好的SERS特性，在修饰完适体后通过基底的物理特性和适体的亲和力结合，有着较高的CTCs捕获效率。微流控芯片与SERS基底的结合，提升了捕获效率，提供了同时具备捕获和SERS检测CTCs的平台。
嵌入 su 基底用于 ctcs 捕获分析微流控芯片

[发明专利]基于同轴激光三角法与显微成像的位移传感器及应用-CN202210284990.0有效
发明人：赵会宁;符晗;樊梦瑶;牛茹茹;于连栋;夏豪杰 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2022-03-22 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明公开了基于同轴激光三角法与显微成像的位移传感器及应用，其光路结构包括激光模组、反射镜、50/50分光镜、显微物镜、感光元件，激光模组的出射光垂直入射50/50分光镜，50/50分光镜的出射光束经反射镜水平入射显微物镜，经显微物镜聚焦后照射在被测平面上，产生的反射光和散射光被显微物镜接收并形成水平出射光束，依次经过反射镜和50/50分光镜作用后垂直照射在感光元件的感光区，形成光斑。本发明高精度位移传感器精度高达纳米级，可实现零部件尺寸和表面特征的高精度测量。
基于同轴激光三角显微成像位移传感器应用

[发明专利]一种球面波前曲率半径测量装置及测量方法-CN202111545370.X有效
发明人：陆洋;卞点;于连栋;高荣科;贾华坤;陈孝喆 -专利权人：中国石油大学（华东）
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01B11/255 文献下载
摘要：本发明公开一种球面波前曲率半径测量装置，包括初始波前调节模块、球面波生成模块、径向剪切干涉模块；球面波生成模块包含有透射式球面波生成模块和反射式球面波生成模块；从激光器输出耦合光束，耦合光束用作于产生两种不同类型球面波的初始输入波前，初始波前经初始波前调节模块调节后分别进入透射式球面波生成模块和反射式球面波生成模块；初始输入波前经过透射式和反射式球面波生成模块后发生对应的形变，再传播至径向剪切干涉模块后，由偏振相机接收最终输出波前，根据获得的原始球面波前分布实现曲率半径测量。本发明还公开了球面波前曲率半径的测量方法，实现大曲率球面波前的恢复，不受振动操作影响、高效数据动态采集的优点。
一种球面曲率半径测量装置测量方法

[发明专利]适用于结构光测量系统标定的复合标准件及标定方法-CN202310213969.6在审
发明人：赵会宁;丁雯靖;于连栋;夏豪杰;符晗;蒲松 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2023-03-02 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于结构光测量系统标定的复合标准件，用于线结构光或圆结构光的测量标定系统中，包括一底板，所述底板中部镂空有锯齿状环形规，所述的环形规形状为，中心镂空圆环直径最小，自中心镂空圆环向两侧的镂空圆环直径依次等阶递增，所述的环形规用于圆结构光的标定。本发明所涉及的器件结构简单、易于实现，方便操作，且实用性比较强；且该标准件能够同时实现线结构光与圆结构光的标定。同时提供一种基于本发明提出的复合标准件的线/圆结构光测量系统的标定方法。
适用于结构测量系统标定复合标准件方法

[发明专利]多相机全局标定方法及装置、电子设备-CN202211692103.X在审
发明人： 于连栋;王帅东;万茂森;赵会宁 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本公开实施例涉及多相机全局标定领域，提供一种多相机全局标定方法及装置、电子设备，方法包括：获取各待标定相机和辅助相机的内参矩阵及畸变系数；基于内参矩阵和畸变系数获取各待标定相机与辅助相机间的旋转矩阵和平移向量；获取各待标定相机坐标系下针对同一目标区域的三维点云数据；将三维点云数据转换至辅助相机坐标系下得到辅助点云数据；对辅助点云数据配准得到各个辅助点云数据到全局坐标系的变换矩阵；基于旋转矩阵、平移向量及变换矩阵，分别确定各个待标定相机到全局坐标系的最终变换矩阵，基于最终变换矩阵对各待标定相机进行全局标定。本公开实施例可有效解决小重叠或无重叠视场下多相机全局标定实际操作复杂、标定精度低的问题。
多相全局标定方法装置电子设备

[发明专利]一种非正弦周期谐振的压电振子-CN201911282199.0有效
发明人：潘成亮;石超;丰安辉;于连栋;夏豪杰;李维诗;任淑鹏;胡民港 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2019-12-13 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： H02N2/00 文献下载
摘要：本发明公开一种非正弦周期谐振的压电振子，由基体、质量体、U形支架、支承支架、弯曲支架和压电片构成，两个等质量的质量体分别通过等刚度的U形支架和支承支架以及不等刚度的弯曲支架连接在基体的左右两侧，两个压电片分别粘贴在两侧弯曲支架的外侧面，压电振子具有一阶横向振动模态和二阶横向振动模态两个有效的固有振动模态，改变两侧弯曲支架的厚度比值可调整压电振子两个振动模态的固有频率比值为1：2或1：3，采用两个压电片分别激励产生两个固有频率下的正弦谐振，使得压电振子的基体合成谐振状态下的近似锯齿波或方波振动。本发明整体结构简单、频率匹配方便，有望作为关键部件构造出新型压电功率驱动马达。
一种正弦周期谐振压电

[发明专利]一种基于低相干干涉的深孔表面形貌测量系统-CN202211468113.5在审
发明人：赵会宁;侯晓莹;王杰;于连栋;夏豪杰 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2022-11-22 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明专利公开了一种基于低相干干涉的深孔表面形貌测量系统，包括检测部分以及自准直系统，检测部分包括所述白光干涉系统，具体为依次设置的1550nmASE宽带光源、第一反射镜、第一分束棱镜、第二反射镜、参考反射镜，第一分束棱镜的两侧分别设置有待测深孔、近红外相机，待测深孔内设置有锥形棱镜；自准直系统设置在待测深孔与第一分束棱镜之间，自准直系统包括依次设置的630nm光源、二向色棱镜、第二分束棱镜、第三反射镜、四象限探测器。本发明可实现对深孔表面形貌的一次性扫描，多次测量通过四步相移算法、拼接算法和对齐算法得出测量结果，实现表面三维形貌的重构。在装置中设计自准直系统，可以测出杆件水平放置时偏摆所产生的误差并进行误差补偿。
一种基于相干干涉表面形貌测量系统

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