专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种逆导通车用IGBT模块-CN202321225967.0有效
  • 欧东赢 - 浙江翠展微电子有限公司
  • 2023-05-17 - 2023-09-22 - H01L25/18
  • 本实用新型提供了一种逆导通车用IGBT模块,包括位于中间的注塑外壳,注塑外壳的顶侧盖设盖板、底侧固贴水冷散热基板,注塑外壳内排列设置若干双面覆铜陶瓷板,注塑外壳通过超声波端子键合与双面覆铜陶瓷板连接,双面覆铜陶瓷板的顶面固定若干逆导通IGBT芯片和一个NTC电阻,逆导通IGBT芯片内部集成有FWD芯片、IGBT芯片和二极管,若干逆导通IGBT芯片并联构成并联电路,注塑外壳于若干双面覆铜陶瓷板的周侧竖立若干Pin针,注塑外壳侧边上凸设若干功率端子,双面覆铜陶瓷板与逆导通IGBT芯片/NTC电阻/Pin针/功率端子通过铝键合引线相互连接。本实用新型能够大幅降低芯片的结温波动,提升器件可靠性。
  • 一种通车igbt模块
  • [发明专利]倒装芯片堆叠结构及其形成方法-CN202180000449.6有效
  • 曾心如;陈鹏;王蒙;张保华;周厚德 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-02-05 - 2023-09-12 - H01L25/18
  • 本公开包括一种半导体封装,所述半导体封装包括具有与输入/输出(I/O)触点接触的第一表面和与第一表面相对的第二表面的再分布层(RDL)。半导体封装还包括形成在RDL的第二表面上并且与RDL电连接的阶梯互连结构。该阶梯互连结构包括阶梯层,所述阶梯层包括第一阶梯层和堆叠在第一阶梯层的顶表面上的第二阶梯层。第二阶梯层覆盖第一阶梯层的顶表面的一部分,使得第一阶梯层的顶表面的剩余部分被暴露。集成电路(IC)芯片经由阶梯互连结构电连接到RDL。IC芯片中的第一IC芯片通过第一阶梯层的顶表面的剩余部分电连接到RDL。
  • 倒装芯片堆叠结构及其形成方法
  • [发明专利]具有暴露的接合线的半导体器件封装件-CN202210565463.7在审
  • 谭华;邱进添;姜卫挺;张会容;张聪;董少鹏;J·唐;R·赵 - 西部数据技术公司
  • 2022-05-23 - 2023-08-25 - H01L25/18
  • 本发明公开了一种半导体器件封装件,该半导体器件封装件包括具有电路的第一基板、以一个在另一个之上的方式堆叠的半导体裸片以及彼此电连接的接合线。该接合线使半导体裸片彼此电耦接并电耦接到该电路。存在第一接合线,该第一接合线具有连接到第一半导体裸片的第一部分、连接到第二半导体裸片的第二部分以及该第一部分与该第二部分之间的中间部分。该半导体器件封装件还包括模塑料,该模塑料包封所述半导体裸片以及该第一接合线的该第一部分和该第二部分。该第一接合线的该中间部分沿着该模塑料的顶部平坦表面暴露。该半导体器件封装件可用于经由该暴露的中间部分将一个或多个其他半导体器件封装件耦接到其上。
  • 具有暴露接合半导体器件封装
  • [发明专利]半导体裸片堆叠以及相关联系统及方法-CN202180052891.3在审
  • K·K·柯比 - 美光科技公司
  • 2021-07-10 - 2023-08-22 - H01L25/18
  • 本发明公开半导体裸片堆叠以及相关联方法及系统。所述半导体裸片堆叠可包含具有存储器阵列的第一裸片及具有经配置以存取所述存储器阵列的CMOS电路系统的第二裸片。所述第一裸片可不具有用于存取所述存储器阵列的电路系统。此外,所述第一及第二裸片可经接合以用作单个存储器装置,且所述第一及第二裸片的前表面经连结以在其间形成电连接。所述第二裸片可包含未由所述第一裸片覆盖的部分,所述半导体裸片堆叠的接合垫定位于所述部分中。所述第一裸片可提供用于接合线连接到所述接合垫的空间,而不干扰附接于所述半导体裸片堆叠上方的另一裸片。多个半导体裸片堆叠可堆叠在彼此顶部上且彼此成一直线。
  • 半导体堆叠以及相关联系方法
  • [发明专利]IGBT模块及电器设备-CN202210121494.3在审
  • 项澹颐 - 富士电机(中国)有限公司
  • 2022-02-09 - 2023-08-22 - H01L25/18
  • 本发明涉及模块封装技术领域,具体地涉及一种IGBT模块及包含上述IGBT模块的电器设备。本发明提供的IGBT模块包括一体式的外壳和封装于外壳内部的IGBT模块电路,IGBT模块电路包括:4个IGBT单元和2个钳位二极管,每个IGBT单元包括IGBT芯片和与IGBT芯片并联的续流二极管。本发明提供的IGBT模块将三电平型IGBT功率模块所需的电器元件设置在一个独立的封装中,IGBT模块内部元件排布结构紧凑,实现整体IGBT模块的小型化,也便于多个IGBT模块进行并联,以实现更大功率的输出。
  • igbt模块电器设备
  • [发明专利]具有模制半导体裸片的半导体裸片组合件及相关联方法及系统-CN202310121909.1在审
  • 廖世雄 - 美光科技公司
  • 2023-02-16 - 2023-08-22 - H01L25/18
  • 公开具有模制半导体裸片的半导体裸片组合件及相关联方法及系统。在一些实施例中,半导体裸片组合件包含封装衬底及附接到所述封装衬底的控制器裸片。所述半导体裸片组合件包括模具结构,所述模具结构包含所述控制器裸片并且具有背对所述封装衬底的表面。所述控制器裸片可完全包覆在所述模具结构内。此外,半导体裸片(例如,存储器裸片)的一或多个堆叠附接到所述模具结构的所述表面。因此,所述半导体裸片组合件不包含用于附接在所述控制器裸片上方的半导体裸片的所述堆叠的支撑结构。
  • 具有半导体组合相关方法系统
  • [发明专利]一种级联型GaN功率器件封装结构-CN202310348421.2有效
  • 冯延晖;岳春晓;邱颖宁 - 南京理工大学
  • 2023-04-04 - 2023-08-22 - H01L25/18
  • 本发明公开一种级联型GaN功率器件封装结构,所述AIN层设置空腔,HEMT芯片位于AIN层空腔内,正置于框架基岛的上表面,MOSFET芯片位于AlN层上表面,HEMT芯片的栅极与MOSFET芯片的漏极形成面积堆叠;所述框架引脚包括框架栅极引脚、框架源极引脚和框架漏极引脚,框架栅极引脚、框架源极引脚和框架漏极引脚平行排列且垂直位于框架基岛的同一侧边;HEMT芯片的漏极与框架漏极引脚电气互连,MOSFET芯片的源极与框架源极引脚电气互连,MOSFET芯片的栅极与框架栅极引脚电气互连。本发明在降低共源共栅级联氮化镓器件寄生电感的同时最大程度实现高效散热。
  • 一种级联gan功率器件封装结构
  • [发明专利]芯片堆叠结构及其制作方法、电子设备-CN202310900874.1在审
  • 曲林 - 荣耀终端有限公司
  • 2023-07-21 - 2023-08-18 - H01L25/18
  • 本申请提供一种芯片堆叠结构及其制作方法、电子设备,涉及芯片制造技术领域,用于解决如何提高芯片堆叠结构的可靠性的问题。该芯片堆叠结构包括第一裸芯片、第二裸芯片以及第一金属键合结构。第一裸芯片包括第一表面。第二裸芯片与第一裸芯片层叠设置;第二裸芯片包括第二表面,第二表面与第一表面相面对。第一金属键合结构包括第一焊盘和第二焊盘,第一焊盘设置于第一表面,第二焊盘设置于第二表面且位于第一焊盘和第二表面之间;第一焊盘和第二焊盘两者中的一者包括第一环形段,另一者与第一环形段键合。
  • 芯片堆叠结构及其制作方法电子设备

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