[发明专利]制造电容器的叉型下电极的方法有效
| 申请号: | 98124128.X | 申请日: | 1998-11-10 |
| 公开(公告)号: | CN1250946A | 公开(公告)日: | 2000-04-19 |
| 发明(设计)人: | 林大成 | 申请(专利权)人: | 世大积体电路股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/31;H01L21/311;H01L21/3213;H01L21/82 |
| 代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
| 地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 制造 电容器 叉型下 电极 方法 | ||
1.一种制造电容器的叉型下电极的方法,该电容器位于一基底,该方法包括:
在该基底之上形成一第一介电层;
在该第一介电层上形成一氮化物层;
在该氮化物层上形成一第二介电层;
对该第一介电层,该氮化物层,该第二介电层进行构图与蚀刻的步骤,直到该基底露出,从而形成一个接触窗开口;
在该接触窗开口中形成一导电插塞;
对该导电插塞旁的第二介电层进行构图与蚀刻的步骤,以形成两个区域,其中该区域是由该氮化物层、该导电插塞、与该第二介电层所围绕;
在该第二介电层、该氮化物层、该导电插塞上形成与该区域的形状共形的一导电层;
移除该导电层在该第二介电层上与该导电插塞的部分;以及
移除该第二介电层剩余的部分。
2.如权利要求1所述的制造电容器的叉型下电极的方法,其中,该第一介电层与该第二介电层为氧化硅,硼磷硅玻璃,旋涂式玻璃,或其它包括上述物体的混合物。
3.如权利要求1所述的制造电容器的叉型下电极的方法,其中,该导电插塞与该导电层由即时掺杂多晶硅形成。
4.如权利要求1所述的制造电容器的叉型下电极的方法,其中该氮化物层为氮化硅。
5.如权利要求1所述的制造电容器的叉型下电极的方法,还包括下列步骤:
在该叉型下电极上沉积一第三介电层;以及
在该第三介电层上形成一上电极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





